Occasion KLA / TENCOR FLX-2320 #293606030 à vendre en France

KLA/TENCOR FLX-2320 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour fournir une précision et une résolution inégalées pour l'analyse précise des wafers nanoélectroniques. KLA FLX-2320 utilise une tête de balayage à 5 axes pour interagir avec la plaquette testée, permettant une mesure et une analyse précises des composants précis du dispositif sur la surface de la plaquette. TENCOR FLX 2320 fournit une suite intégrée de technologies d'imagerie avancées pour fournir une visualisation détaillée des défauts des plaquettes. L'unité optique du système utilise un grossissement de 4x avec un champ de vision de 3 pouces de diamètre, permettant une analyse précise de toute la surface de la plaquette. FLX-2320 fournit à la fois des images en champ lumineux et en champ sombre avec un déploiement de lumière optimisé par le signal, permettant de multiples types d'images à partir d'un seul balayage. FLX 2320 intègre également la diffraction du signal à angle variable (VSD) pour des mesures complexes de dispositifs, permettant une évaluation précise des structures et dispositifs nanoélectroniques. Cette machine est configurée avec un étage de métrologie optique à couplage capacitif haute tension (HCOMS) exclusif pour recueillir une gamme complète de points de données avec un rapport signal/bruit supérieur. KLA FLX 2320 dispose d'un outil intégré de manutention de plaquettes avec un séquenceur de charge/déchargement de plaquettes complet. L'actif de direction de production de BLSS-5 intégré utilise l'apprentissage de soi des algorithmes pour séparer acceptable et rejeter des appareils, en garantissant un taux élevé de production. Toutes les mesures effectuées avec KLA/TENCOR FLX 2320 sont stockées dans une base de données sécurisée et accessible, permettant un accès automatisé et en temps réel aux données. TENCOR FLX-2320 utilise également une série de technologies avancées d'inspection, de cartographie et de caractérisation des défauts in situ. Ces outils permettent d'analyser et de visualiser de minuscules défauts, ce qui permet une détection plus précise des défauts des plaquettes et une meilleure assurance qualité. KLA/TENCOR FLX-2320 utilise également une suite complète d'outils avancés de caractérisation des défauts in situ. La prise en charge du suivi automatisé des défauts, de l'emplacement de l'appareil et de l'analyse de l'appareil fournit des capacités avancées d'analyse des défauts, permettant d'identifier avec précision les causes des défauts. Les capacités d'optique et de balayage de haute précision du KLA FLX-2320 permettent des niveaux de test et de métrologie sans précédent. Ce modèle améliore considérablement l'efficacité et la précision du processus d'essai des plaquettes tout en réduisant considérablement les coûts de production. TENCOR FLX 2320 est l'un des systèmes d'essai et de métrologie de plaquettes les plus avancés du marché, offrant le plus haut niveau de performance, de précision et de résolution dans l'industrie.