Occasion KLA / TENCOR FLX-2320 #293633036 à vendre en France

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ID: 293633036
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1997
Thin film stress measurement system, 8" 2-D/3-D Mapping Dual wavelength measurement: 670 nm and 780 nm Resolution: 3e^-​5 m^-1 Minimum scan step: 0.02 mm Minimum radius: 2.0 m (Scan length: 80 mm) Chuck size, 8" Temperature: 500°C Manual wafer load Floppy drive, 3.5" No dongle Chuck heater PC included 1997 vintage.
KLA/TENCOR FLX-2320 est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération conçu pour une efficacité et des performances maximales. KLA FLX-2320 est capable de manipuler des plaquettes de 9 "à 200 mm et prend en charge un large éventail d'applications de test de plaquettes et de métrologie. L'interface utilisateur graphique numérique à écran tactile du système facilite son fonctionnement et offre un environnement polyvalent pour personnaliser et optimiser les processus de test. TENCOR FLX 2320 dispose d'une architecture à très faible bruit et d'un balayage à haute vitesse pour permettre une acquisition rapide et précise des données. L'unité fournit une résolution sous-nanométrique avec un débit rapide, des mesures fiables et une imagerie haute sensibilité. La machine dispose également d'une portée de détection étendue, avec une capacité de détection de 0,1 nanomètre, ce qui permet de réaliser une grande variété d'applications de métrologie avec précision et rapidité. Le KLA/TENCOR FLX 2320 est très intégré et offre une manipulation automatisée des plaquettes, un grossissement et un contrôle d'étage. Les processus de test des plaquettes sont améliorés avec un logiciel de métrologie optique intégré, fournissant des mesures précises et répétables. L'outil offre également une variété d'options de connectivité, telles que l'imagerie numérique, les composants d'inspection et d'analyse, pour l'essai et l'inspection intégrés des plaquettes. TENCOR FLX-2320 offre également un certain nombre de fonctionnalités avancées, telles que la reconnaissance automatisée des motifs, l'imagerie non destructive et la visualisation des défauts du noyau, et la suggestion d'outils automatisés pour des applications de test optimales. L'actif a été spécialement conçu pour réduire les temps de cycle et améliorer le débit, tout en assurant la traçabilité et le contrôle de la qualité. Dans l'ensemble, le FLX 2320 est un modèle avancé d'essai et de mesure de plaquettes pour l'industrie des semi-conducteurs. De l'alignement des plaquettes à l'analyse métrologique, KLA FLX 2320 offre une plateforme polyvalente et puissante pour les tests automatisés et la métrologie. Grâce à son balayage rapide, son architecture à faible bruit, sa portée de détection étendue et ses fonctions automatisées, FLX-2320 est capable de fournir des mesures rapides et précises, ce qui permet d'améliorer considérablement le débit et l'efficacité.
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