Occasion KLA / TENCOR FLX-2320 #293667053 à vendre en France

ID: 293667053
Style Vintage: 2001
Thin film stress measurement system Manuals included 2001 vintage.
KLA/TENCOR FLX-2320 est un équipement de pointe conçu pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie. Le système est capable à la fois de métrologie de surface et d'essais de plaquettes non destructives, ce qui le rend adapté à une large gamme d'industries. KLA FLX-2320 dispose d'une variété de technologies qui lui permettent d'effectuer des tests avancés et des fonctions de métrologie. Son inspection optique automatisée (AOI) utilise des systèmes de caméras à haute résolution pour détecter des défauts non visibles tels que des défauts de plaquettes sous-microns. TENCOR FLX 2320 intègre également la technologie DLMI (Digital multicouche wafer imaging), qui exploite les dernières avancées en imagerie 3D et en vérification visuelle pour détecter les défauts de plusieurs couches de substrats. Par ailleurs, FLX 2320 est équipé d'une unité de dépôt/gravure cyclique qui permet d'effectuer des étapes de dépôt et de gravure de manière cyclique, permettant des procédés de dépôt et de gravure très précis avec un minimum de déchets. Cette machine peut accueillir jusqu'à 180 plaquettes simultanément, réduisant le temps de production et augmentant les capacités de production. En outre, TENCOR FLX-2320 peut être utilisé pour la testabilité et l'analyse de rendement. Grâce à l'utilisation de grilles d'essai intégrées, à la conversion analogique-numérique et à d'autres technologies de sondes électriques, FLX-2320 peut fournir des informations détaillées sur les propriétés électriques de divers substrats, permettant un étalonnage et une analyse détaillés des rendements. Enfin, KLA FLX 2320 dispose d'une série d'outils d'analyse qui lui permettent de mesurer, caractériser et diagnostiquer diverses caractéristiques et défauts de surface. Ces outils, tels que la microscopie laser tridimensionnelle et la microscopie à force atomique, permettent à l'utilisateur d'acquérir une connaissance inédite des propriétés physiques et chimiques des plaquettes. KLA/TENCOR FLX 2320 wafer testing and metrology outil est un atout puissant et très avancé qui est capable d'accomplir une variété de tâches liées aux wafer testing et à la métrologie. Ses capacités d'imagerie numérique automatisée, d'inspection optique, d'examen microscopique et de sondes électriques fournissent un aperçu et un contrôle inégalés du processus de fabrication, ce qui permet d'améliorer le rendement et les résultats de production. De plus, son interface utilisateur intuitive et sa suite d'outils analytiques rendent KLA/TENCOR FLX-2320 convivial et facile à utiliser.
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