Occasion KLA / TENCOR FLX-2908 #293587318 à vendre en France

KLA/TENCOR FLX-2908 est un équipement d'essai et de métrologie utilisé pour mesurer et surveiller un large éventail de paramètres de semi-conducteurs. Le système comprend un certain nombre de modules qui ont été conçus pour effectuer des tests et des mesures sur divers procédés et substrats semi-conducteurs, dans le but de fournir un outil précis et fiable pour valider les performances du dispositif. L'unité KLA FLX-2908 utilise une machine d'imagerie haute résolution pour capturer des images de la surface de la plaquette, fournissant des informations précises et détaillées sur ses caractéristiques et sa composition, permettant des mesures de métrologie précises et spécialisées dans une gamme de directions géométriques. Le module de spectroscopie FTIR inclus mesure une gamme de paramètres pour les essais de plaquettes, tels que l'uniformité de l'épaisseur et de la couche de passivation, la composition des matériaux et la résistivité. L'outil TENCOR FLX 2908 est équipé d'algorithmes avancés de détection des défauts de volume et des défauts non volumétriques. Ces algorithmes sont basés sur l'évaluation des cartes de texture et d'émission de lumière et la vérification des propriétés optiques du matériau. En outre, l'actif peut être réglé pour scanner les plaquettes à la vitesse la plus élevée disponible, ce qui en fait un choix idéal pour tester un grand nombre de plaquettes pendant la production. Les caractéristiques de TENCOR FLX-2908 peuvent être adaptées aux besoins individuels de chaque utilisateur et de chaque processus. La boîte à outils de qualification des matériaux inclus permet de s'assurer que les résultats correspondent aux normes souhaitées, ce qui facilite l'ajustement rapide des paramètres si nécessaire. KLA/TENCOR FLX 2908 est également capable de suivre les données, permettant aux utilisateurs de sauvegarder et d'analyser les résultats des tests passés. Cela permet aux utilisateurs de comparer différents tests et de suivre efficacement l'avancement de leurs processus. En outre, les résultats sont facilement accessibles pour une analyse plus approfondie et peuvent être utilisés pour des décisions basées sur des données, aidant l'utilisateur à gérer plus efficacement l'ensemble du processus de wafer. Dans l'ensemble, FLX-2908 est un outil inestimable pour toute personne impliquée dans le développement et la production de semi-conducteurs, offrant une solution facile à utiliser et de haute qualité pour tester et surveiller un large éventail de matériaux et de procédés. Les caractéristiques puissantes du modèle, combinées à sa robustesse et à sa flexibilité, en font le choix idéal pour tout test de plaquette et toute exigence de métrologie.