Occasion KLA / TENCOR FLX-2908 #9016283 à vendre en France

L'équipement d'essai et de métrologie KLA/TENCOR FLX-2908 est une plate-forme intégrée de haute précision conçue pour aider les ingénieurs et les scientifiques à caractériser les propriétés physiques des plaquettes avec des résultats rapides et précis. La puissante optique exclusive et les logiciels informatiques du système lui permettent de mesurer plusieurs paramètres, tels que la topographie frontale et dorsale, la morphologie de la surface, la chaîne des plaquettes, la résistivité, la réflectivité ou l'épaisseur du film, dans les 1 microns. Il combine métrologie, inspection des défauts et alignement d'orientation des plaquettes pour fournir des résultats très fiables avec des délais d'exécution rapides pour un large éventail d'applications. KLA FLX-2908 utilise une unité d'inspection et d'imagerie basée sur la lumière pour détecter les défauts de la surface des plaquettes. Cette machine utilise une direction par faisceau, permettant de fusionner chaque point ciblé de la plaquette par trois ou plusieurs angles d'éclairage distincts, formant une image unique de la région. Sa technologie d'imagerie exclusive traite ensuite les tableaux bruts en données physiques significatives pour quantifier une variété de caractéristiques de surface, des cartes topographiques détaillées aux cartes de dénombrement total des lignes (TLC) des régions défectueuses, en passant par les cartes de résistivité des régions identifiées par TLC. L'outil est également capable d'effectuer des mesures de chaíne et d'épaisseur de plaquettes à l'avant ou à l'arrière du substrat. Sa technologie d'analyse en front d'onde est capable de déterminer le degré exact de courbure du substrat, ce qui est important pour la production de composants semi-conducteurs avancés. TENCOR FLX 2908 intègre également la métrologie et la détection des défauts dans un seul actif, permettant aux utilisateurs de mesurer simultanément plusieurs propriétés d'une même plaquette, fournissant une caractérisation complète des caractéristiques physiques du substrat. Sa 24/7 capacité de surveillance du modèle détecte les problèmes potentiels avant qu'ils ne se produisent et peut aider à augmenter le temps de disponibilité et réduire les temps d'arrêt de l'équipement. FLX-2908 est parfait pour les ingénieurs et les scientifiques qui ont besoin d'une caractérisation fiable et rapide des propriétés physiques des plaquettes. Ses capacités avancées d'optique et de traitement d'image donnent aux utilisateurs des résultats très précis dans une grande variété d'applications, tandis que son intégration de la métrologie et de la détection des défauts permet une caractérisation complète de la propriété physique d'une seule plaquette.