Occasion KLA / TENCOR FT-750 #136435 à vendre en France

KLA/TENCOR FT-750 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui est utilisé pour évaluer la performance des puces de plaquettes. Ce système comprend une variété de composants avancés de test et de métrologie qui sont utilisés pour détecter et analyser les défauts dans les circuits intégrés (IC). KLA FT-750 peut être utilisé pour tester, mesurer et vérifier les puces de plaquettes avant et après fabrication. TENCOR FT 750 dispose d'un microscope automatisé haute résolution pour l'inspection de la surface des plaquettes, permettant aux opérateurs de zoomer sans faille sur les détails d'un échantillon sans objectifs d'échange. Le microscope dispose également d'une unité de positionnement automatique à 6 axes qui permet aux opérateurs de mesurer et d'enregistrer rapidement et avec précision les caractéristiques fines à haute précision. En outre, KLA/TENCOR FT 750 dispose d'une machine d'acquisition de données série haute vitesse qui acquiert et stocke les données de test prélevées sur les échantillons de plaquettes. Cet outil est hautement configurable et peut être adapté pour répondre aux exigences d'une variété d'applications de test. En outre, FT 750 comprend également une technologie SMARTSort qui aide à catégoriser et trier les défauts constatés lors des tests. KLA FT 750 comprend également un ensemble puissant d'outils logiciels qui peuvent être utilisés pour analyser les données d'échantillons de plaquettes collectées. Ces logiciels prennent en charge la visualisation automatique et manuelle des données d'essai, l'analyse statistique, l'analyse du dipôle, la classification des défauts et la détection des défauts. Grâce à l'analyse des données recueillies, les ingénieurs peuvent prendre des décisions éclairées lorsqu'ils abordent des questions de conception potentielles et améliorent la qualité globale des IC. FT-750 est également conçu pour une large gamme de mesures de rugosité qui lui permet de mesurer la forme exacte de la surface des plaques IC. Cet actif est bien adapté pour mesurer les champs de racines des structures de bosses et l'épaisseur de la couche morte. En outre, ce modèle est équipé d'une capacité de mesure dimensionnelle qui comprend des approches optiques, électriques et basées sur la microscopie à force atomique qui utilise l'imagerie hors axe et la méthode de contraste de tension pour mesurer de façon fiable l'épaisseur et la morphologie du CI. En résumé, TENCOR FT-750 est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la détection et l'analyse des défauts et autres caractéristiques des circuits intégrés. Ce système dispose d'un microscope automatisé de haute précision, d'une unité d'acquisition de données série à grande vitesse, d'une technologie SMARTSort et d'outils logiciels puissants. Cette machine est bien adaptée pour mesurer la forme exacte de la surface des plaquettes ainsi que leurs champs de racines et l'épaisseur de la couche morte.