Occasion KLA / TENCOR FT-750 #293750959 à vendre en France

KLA/TENCOR FT-750 wafer testing and metrology equipment est une plate-forme de métrologie polyvalente, automatisée et complète pour l'inspection et la mise à l'essai de dispositifs de wafer de haute densité. Conçu pour être utilisé dans les procédés avancés de conception et de fabrication de dispositifs IC présents dans l'industrie des semi-conducteurs d'aujourd'hui, le système KLA FT-750 offre une précision, une précision et un débit supérieurs. Cette unité robuste et extensible optimise le débit et le coût, ce qui permet de réduire le temps de test et d'améliorer le rendement du produit. La machine TENCOR FT 750 utilise une variété d'outils de métrologie pour garantir la plus haute qualité dans le test et l'analyse des IC minces, couches de films minces et autres caractéristiques des IC avancés. Cela comprend un profileur optique 2D puissant pour mesurer la profondeur et le diamètre des caractéristiques, un microscope CD-SEM pour mesurer les largeurs des lignes et la rugosité minimale des bords de ligne (LER), et un microscope à force atomique pour mesurer la topographie de surface. TENCOR FT-750 exploite également une variété de technologies de sonde à haute résolution, telles que la microscopie à force d'image électrique (EIFM) et la microscopie à sonde Kelvin, pour mesurer les propriétés des dispositifs au niveau de la sous-surface. En plus des fonctions de métrologie avancées, FT 750 offre de nombreuses fonctionnalités pour accélérer le processus de test et de métrologie. Les outils d'inspection automatique aident à augmenter le débit en simplifiant le processus d'analyse des données, et la capacité d'alignement automatique des appareils élimine le besoin d'alignement manuel et augmente le rendement. Le firmware outil peut également être mis à jour avec de nouvelles versions pour fournir des résultats de test plus rapides et plus précis. Avec une interface utilisateur intuitive et facile à utiliser, KLA FT 750 est un outil de test et de métrologie extrêmement flexible, fiable et productif. Les opérateurs peuvent gagner du temps et garantir des résultats optimaux car une grande variété de configurations peuvent être créées pour répondre à une variété de types d'appareils et d'applications, tels que les dispositifs à puce basculante, optoélectronique et MEMS. L'utilisateur peut sélectionner des paramètres tels que la taille et les tolérances des fonctionnalités, la géométrie des dispositifs et la configuration des échantillons afin de produire les résultats les plus précis possible. Dans l'ensemble, le KLA/TENCOR FT 750 fournit le plus haut niveau de précision et de débit pour les essais de plaquettes et la métrologie. Sa qualité d'image supérieure, son extensibilité et son interface utilisateur facile à utiliser en font le modèle idéal pour le développement et la fabrication d'IC. Sa combinaison d'outils de métrologie, de propriétés automatiques et de capacités d'alignement des dispositifs ajoute une grande efficacité au processus d'essai et de métrologie, ce qui permet de réduire le temps d'essai et d'améliorer le rendement du produit.