Occasion KLA / TENCOR FT-750 #9155148 à vendre en France

KLA/TENCOR FT-750 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision utilisé pour l'inspection des plaquettes et des dispositifs à semi-conducteurs. Il fournit une inspection des défauts, des mesures d'appareils et des mesures d'épaisseur de couche sur une variété de types et de tailles de plaquettes, y compris les appareils nus, à motifs et emballés. KLA FT-750 dispose d'un puissant système optique Zeiss avec des détecteurs de grande surface et une résolution de sous-microns, ce qui le rend idéal pour les tâches difficiles d'inspection des caractéristiques les plus microscopiques des wafers et des dispositifs semi-conducteurs. TENCOR FT 750 utilise une unité de positionnement de faisceau haute vitesse et haute précision pour analyser un large éventail de caractéristiques sur une plaquette ou un dispositif, y compris les déficiences, les impuretés, les contaminants et les défauts. En outre, la machine est équipée d'une grande variété d'outils d'automatisation, y compris des cassettes de plaquettes à vide et des outils d'alignement automatique, pour des essais automatisés sans arrêt. Le puissant outil automatisé de métrologie multi-paramètres FT 750 permet de déterminer avec précision l'épaisseur, la vitesse et la résistivité des couches sur les plaquettes et les dispositifs. Cela garantit que les spécifications les plus strictes des appareils de haute technologie sont respectées. De plus, le KLA/TENCOR FT 750 offre des capacités d'inspection visuelle de pointe, y compris une résolution optique inférieure à 0,5 µm. FT-750 dispose d'une multitude de technologies de contrôle avancées, y compris des logiciels intuitifs et une cabinerie ergonomique. Le modèle d'étalonnage électronique intégré de l'actif simplifie le processus d'étalonnage et de maintenance de routine. Cet équipement est capable de capturer et d'analyser jusqu'à 500 paramètres à la fois, ce qui en fait l'un des systèmes de test de plaquettes les plus puissants et les plus efficaces disponibles. En conclusion, KLA FT 750 wafer test et métrologie système offre la plus grande précision et précision disponible pour tester et contrôler la qualité des wafers et des dispositifs semi-conducteurs. Sa puissante unité de métrologie automatisée multi-paramètres et ses capacités d'inspection visuelle de pointe garantissent le respect des spécifications les plus strictes des appareils de haute technologie.