Occasion KLA / TENCOR FT-750 #9155149 à vendre en France

ID: 9155149
Wafer thickness measurement system, 4"-6" Voltage: 115 V Measures: Single Multilayer films 410" - 800" Reflectivity range contour Die 3D Mapping COGNEX 3100-4MB Vision system version: 1.20A Olympus MS plan: 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x Auto focus: 1.5-5 Second measure time integrated (2) Cassettes elevators Wafer sorting capability Integrated finder vacuum reset Frequency: 50/60 Hz Current: 1250 W.
KLA/TENCOR FT-750 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer à la fine pointe de la technologie qui peut fournir une analyse complète des wafers semi-conducteurs, des IC et des composants. KLA FT-750 est conçu pour aider les processus de fabrication de plaquettes tels que la lithographie, le collage, le dépôt de films et la gravure, en mesurant et caractérisant rapidement un large éventail de paramètres critiques avec des résultats précis et reproductibles. Le système TENCOR FT 750 est basé sur une plate-forme avancée combinant la microscopie optique, la microscopie électronique à balayage et d'autres techniques de métrologie en une solution tout-en-un. Doté d'une charge et d'un positionnement automatisés des plaquettes, il offre un débit de pointe dans l'industrie, une précision et une répétabilité supérieures pour les mesures de métrologie, d'imagerie et de profil 3D. En outre, la machine est capable de mesurer plusieurs paramètres clés de la plaquette, y compris la rugosité de surface, le nombre de particules, la densité de défauts, les épaisseurs de film, les dimensions critiques, et beaucoup plus avec une grande précision. Le KLA FT 750 est équipé de plusieurs outils et composants essentiels tels que la cartographie automatisée des plaquettes, un axe Z ultra précis et un puissant outil de contrôle basé sur PC. En outre, l'actif d'imagerie CCD est construit avec des éléments à haute résolution et des algorithmes logiciels avancés pour l'imagerie et l'analyse rapides, précises et répétables. L'équipement de contrôle intuitif du modèle permet aux opérateurs de régler, étalonner et contrôler rapidement et efficacement les mesures. KLA/TENCOR FT 750 est un système robuste, fiable et précis qui offre des résultats de qualité supérieure dans diverses applications de test de plaquettes. Il dispose d'un mécanisme de rotation ultra lisse des plaquettes pour un contrôle précis du mouvement, ainsi que d'un logiciel propriétaire pour la caractérisation des défauts et des particules qui permet une reconstruction 3D sophistiquée. Grâce à ses capacités de cartographie automatisée, FT 750 peut mesurer efficacement un certain nombre de paramètres critiques en un seul passage. TENCOR FT-750 est soutenu par un service client de renommée KLA, ainsi que par une gamme d'assistance technique et de formation conçue pour maintenir la machine dans un état optimal. En tant que tel, FT-750 est idéal pour une large gamme d'applications de test de plaquettes, fournissant des résultats fiables et efficaces qui permettent aux ingénieurs d'optimiser la qualité et les performances des processus.
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