Occasion KLA / TENCOR FT-750 #9173658 à vendre en France

KLA/TENCOR FT-750 est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération. Il est conçu pour répondre aux exigences croissantes de débit et de précision dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Il est équipé d'une optique avancée, d'un contrôle des mouvements, d'une collecte de données et de capacités d'analyse, qui sont tous surveillés et contrôlés par une architecture système avancée. L'unité utilise un puissant moteur d'imagerie pour générer des images de sous-microns avec une clarté et une résolution exceptionnelles. Le moteur d'imagerie se compose d'une caméra numérique CCD haute résolution, objectif AutofocusTM, et une source lumineuse LED améliorée pour l'éclairage. La machine d'imagerie améliorée permet d'obtenir une capacité d'imagerie jusqu'à 16x la résolution des modèles précédents. KLA FT-750 dispose d'un outil de métrologie optique innovant pour mesurer avec précision un large éventail de caractéristiques critiques des appareils. L'actif de métrologie intégré utilise des systèmes d'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, combinés à un balayage ponctuel tridimensionnel, pour mesurer des caractéristiques aussi petites que 0,2 micron à travers la plaquette. Les capacités d'imagerie et de métrologie de TENCOR FT 750 sont complétées par un modèle de commande de mouvement robuste. Cet équipement se compose de trois étages actionnés pour une précision supplémentaire dans le positionnement des plaquettes. De plus, un système sophistiqué d'alignement basé sur la vision est utilisé pour assurer l'enregistrement précis des images aux mesures. Les capacités internes de collecte et d'analyse de données de l'unité FT 750 utilisent des algorithmes sophistiqués pour caractériser les endroits, les tailles et la forme des défauts. Ces algorithmes sont combinés à de puissants outils de base de données et à une classification automatisée des défauts pour analyser et rapporter efficacement les résultats des tests. La machine est conçue pour être intégrée à d'autres équipements de test et de métrologie des semi-conducteurs, ce qui permet un transfert et un reporting de données efficaces. TENCOR FT-750 est également en mesure d'utiliser des outils logiciels disponibles sur le marché pour faciliter la communication des résultats des tests et d'autres tâches d'analyse. Dans l'ensemble FT-750 est un outil avancé de test de plaquettes et de métrologie emballé avec des capacités innovantes. Ses puissantes fonctions d'imagerie, de métrologie, de contrôle des mouvements et de collecte/analyse de données fournissent une caractérisation des plaquettes très précise et fiable. L'actif est hautement capable de fournir des caractéristiques qui répondent aux exigences exigeantes de la fabrication de plaquettes semi-conductrices de nouvelle génération.