Occasion KLA / TENCOR FT-750 #9185317 à vendre en France

KLA/TENCOR FT-750 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour surveiller les performances et la qualité des circuits intégrés pendant la production. Le système est basé sur la technologie optique sans contact, offrant une grande précision, des performances et des capacités de test par lots. KLA FT-750 est exceptionnellement bien adapté aux procédés avancés de fabrication de dispositifs et de circuits pour les ICS opto-électroniques et photoniques, les capteurs MEM et les composants semi-conducteurs. TENCOR FT 750 est conçu pour mesurer et surveiller les défauts sur les plaquettes pendant la production. Cela est fait avec l'utilisation de son propre rétroéclairage multi-longueurs d'onde, l'optique de balayage et l'imagerie de zone de matrice pixel, couplant les caractéristiques de mesures homogènes et uniques pour chaque appareil. Cela permet aux utilisateurs de détecter avec précision les défauts électriques tels que les shorts, les ouvertures, les vias cassés et les shorts en cuivre, ce qui garantit la qualité de la production. De plus, KLA FT 750 est capable de scanner rapidement et à plusieurs reprises et de mesurer indépendamment un ensemble de paramètres afin d'identifier des défauts spécifiques et d'évaluer rapidement les performances du procédé. L'unité a la capacité de mesurer les paramètres des noeuds avancés, même jusqu'à 7nm et en dessous. Il offre une précision d'inspection dans la plus petite des tailles de fonctionnalités, fournissant des images visuelles rapides, et une analyse haute résolution pour une variété de photodétecteurs de circuits intégrés, résistances, condensateurs, et d'autres composants. FT 750 est conçu avec des fonctionnalités pour la facilité d'utilisation, y compris des configurations de tests automatiques définies par l'utilisateur, des configurations automatiques pour plusieurs paramètres de détection, l'étalonnage des plaquettes standard et l'exécution rapide des tests. En outre, la machine est équipée d'outils complets d'analyse d'image, tels que l'analyse de polarisation croisée, l'inspection à contraste élevé et faible, l'analyse topographique, la classification intelligente des défauts, et une sélection de la reconnaissance automatique des défauts. En outre, l'outil est conçu pour le test par lots, fournissant une solution rapide et efficace pour le grand volume de wafers de production. KLA/TENCOR FT 750 est également bien équipé avec des outils logiciels avancés qui peuvent être utilisés pour analyser des données en temps réel, ainsi que préparer des rapports simples ou complexes. L'actif est compatible avec divers systèmes informatiques hôtes et logiciels tiers pour étendre davantage les capacités d'analyse et de rapport des utilisateurs. En résumé, FT-750 est un modèle d'essai de plaquettes haut de gamme et de métrologie conçu pour un examen détaillé rapide et la reconnaissance des défauts des circuits intégrés pendant la production. Les outils automatisés intelligents et l'analyse complète fournis par l'équipement permettent aux utilisateurs de détecter et de surveiller les défauts avec précision et cohérence, et ses capacités de test par lots en font un choix idéal pour une production à grande échelle.