Occasion KLA / TENCOR FX 100 #9246541 à vendre en France

KLA/TENCOR FX 100 est un équipement de test et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour améliorer le rendement et réduire les débris pour la fabrication de semi-conducteurs. Il utilise une combinaison d'interféromètres optiques, de microscopes électroniques à balayage et de systèmes automatisés d'inspection des défauts pour détecter et mesurer différents types de défauts sur une variété de types de plaquettes semi-conductrices. La configuration du système KLA FX 100 comprend deux têtes de balayage : un interféromètre à grand champ et un microscope optique à haute densité. Ces têtes de balayage sont couplées avec une sélection d'interféromètres optiques, une unité d'imagerie numérique et un microscope à longue distance de travail. La conception de la machine combine la métrologie de précision avec la capacité de mesurer les angles, les distances et les azimuts avec une répétabilité fiable. Il est capable de capturer des données de tout le champ de vision, avec une faible erreur de mesure et une grande précision sur une grande variété de types de plaquettes. Pour la localisation et la mesure des défauts, l'outil TENCOR FX 100 utilise des microscopes optiques et électroniques avancés, ainsi que des systèmes d'inspection automatisés. Ces capteurs peuvent détecter et mesurer divers types de défauts, comme des particules, des vides, des dislocations, des non-uniformités de surface et des zones structurellement endommagées. FX 100 dispose également d'outils automatisés de jaugeage, d'analyse statistique, de cartographie des plaquettes, d'analyse des rendements et de suivi des défauts. Pour assurer le contrôle de la qualité dans la fabrication des semi-conducteurs, KLA/TENCOR FX 100 peut mesurer avec précision tous les types de plaquettes semi-conductrices, en utilisant une variété de techniques de recouvrement et d'alignement. Pour réduire le nombre de tests automatisés et manuels, KLA FX 100 dispose d'une console de métrologie intégrée. Cette console comprend une interface de métrologie automatisée pour une localisation et une mesure efficaces des défauts. Le modèle comprend également un gestionnaire de plaquettes robotisées à haut débit, qui est conçu pour la manutention rapide des plaquettes et les tests de contraintes rapides. TENCOR FX 100 est un équipement intégré de test et de métrologie conçu pour maximiser le rendement et augmenter l'efficacité de production dans la fabrication de semi-conducteurs. Les microscopes optiques et électroniques avancés et de haute précision, combinés à des systèmes d'inspection automatisés, permettent d'identifier et de mesurer divers défauts, tandis que la console de métrologie intégrée et le gestionnaire automatisé de plaquettes réduisent le temps et les coûts d'essai. Pour assurer le contrôle de la qualité dans la fabrication des semi-conducteurs, l'unité d'essai et de métrologie FX 100 est une solution puissante et fiable.