Occasion KLA / TENCOR HRP 340 #293662987 à vendre en France

KLA/TENCOR HRP 340 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution haute performance pour l'analyse automatisée des défauts des wafers et les applications de métrologie des équipements optiques. Conçu pour répondre aux besoins exigeants de l'industrie des semi-conducteurs d'aujourd'hui, le KLA HRP 340 est capable de fournir une résolution nanométrique et une vitesse d'analyse élevée - jusqu'à 40 wafers/heure. Le système est composé de trois sous-systèmes pour faciliter l'ensemble du processus de test des plaquettes et de métrologie. Le premier sous-système est l'unité de métrologie HPR 145, une machine entièrement intégrée combinant quatre machines de métrologie optique géométrique en longueur d'onde (GOMM) et un profilomètre laser. Le deuxième sous-système est l'outil d'inspection par wafer à haute résolution (PWI), qui comprend un dispositif d'inspection optique automatisé à haute résolution et un logiciel associé pour l'inspection des caractéristiques étroites et des motifs en ligne fine. Enfin, TENCOR HRP 340 comprend un actif d'examen et d'analyse des défauts pour la sélection des plaquettes pour une inspection approfondie et l'utilisation des trois sous-systèmes pour les essais des plaquettes et les applications de métrologie. En utilisant le modèle de métrologie HPR140, une combinaison unique de quatre GOMM et un profilomètre laser, les fabricants peuvent capturer des images haute résolution et analyser les géométries des plaquettes avec vitesse et précision. Avec une technologie de longueur d'onde et une automatisation différentes, la précision et le débit sont améliorés à l'échelle nanométrique. L'équipement d'inspection de Wafer, équipé d'un dispositif d'inspection optique automatisé haute résolution et d'un logiciel connexe, permet de détecter et de classer plus rapidement les défauts. Les caractéristiques des plaquettes telles que la largeur des lignes, l'espace des lignes et le positionnement des bords peuvent être mesurées et inspectées avec précision afin d'assurer une fabrication sans défaut. Enfin, le Système d'examen et d'analyse des défauts fournit un examen et une analyse des wafer par wafer pour s'assurer que la fabrication et la réparation des wafer sont effectuées efficacement. Les images de caractérisation des défauts de Wafer et les résultats d'analyse sont recueillis et peuvent être présentés à l'utilisateur dans un rapport personnalisable d'examen des défauts. HRP 340 Wafer Testing and Metrology Unit fournit à l'industrie des semi-conducteurs une solution puissante et complète pour l'analyse des défauts et les applications de métrologie des équipements optiques. Avec sa vitesse d'intégration élevée, sa résolution nanométrique et ses sous-systèmes complets de révision et d'analyse des défauts, KLA/TENCOR HRP 340 est le choix idéal pour garantir la qualité et la précision dans la fabrication de semi-conducteurs de pointe.