Occasion KLA / TENCOR HRP 340 #9219036 à vendre en France

KLA/TENCOR HRP 340 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe. Il est conçu pour fournir une solution de métrologie sûre, précise et efficace pour de multiples applications de substrat. KLA HRP 340 est un système multifonctionnel qui combine de nombreux outils, des sondeurs de plaquettes aux systèmes de révision des défauts, sous une seule plate-forme flexible. L'unité offre une large gamme de capacités de métrologie pour divers essais de plaquettes, y compris wafer prober (s), microscopes, systèmes de vision, spectroscopie de dégradation induite par laser (LIBS), microscopie à force atomique (AFM), microscopie électronique à balayage (SEM), et d'autres solutions avancées de métrologie. La machine est capable de détecter et de trier les défauts sur les plaquettes afin d'identifier les endroits de défaillance. Il offre également l'alignement de précision et l'imagerie à de faibles niveaux de dimension critique (CD). TENCOR HRP 340 fournit une imagerie haute résolution avec une réduction des étapes de balisage. L'outil FIB/SEM en vedette simplifie la préparation des échantillons et augmente le nombre de vues possibles au niveau de la matrice. La technologie avancée d'amélioration de l'image de l'outil permet d'identifier et de mesurer avec précision les bords et les motifs de toute forme, assurant ainsi la détection des défauts de haute fidélité. Les systèmes de vision inclus sont intégrés avec des algorithmes de machine-learning spécialisés qui peuvent détecter rapidement même les plus petits défauts. HRP 340 est équipé d'une variété de cartes de sonde avancées pour faciliter davantage la précision dans les essais de plaquettes. Les cartes sont conçues pour réduire considérablement la contamination biologique. Cet atout fournit flexibilité, précision, vitesse et méthodes d'essai compatibles pour une variété de substrats. Le gaufrier automatisé intégré aux systèmes de vision et d'autofocus permet un échantillonnage efficace à travers le substrat pour une précision accrue et une stabilité de test. En plus d'offrir une détection complète des défauts, KLA/TENCOR HRP 340 est également équipé d'outils automatisés d'examen des défauts, garantissant la plus grande validité de chaque résultat. Les fonctions d'histogramme automatisé fournissent des profils statistiques de nombreux tests de plaquettes. Ces profils montrent les tendances en matière de défectivité et permettent aux utilisateurs d'identifier rapidement les associations de type et de grade spécifiques des substrats défaillants. KLA HRP 340 est idéal pour les applications de recherche et de production, et est une solution de métrologie haut de gamme dans l'industrie des semi-conducteurs.