Occasion KLA / TENCOR HRP 350 #293610085 à vendre en France

KLA/TENCOR HRP 350 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution d'essai et de métrologie de nouvelle génération. Il combine les dernières technologies de métrologie optique et de laser pour offrir le plus haut niveau de précision et de précision. Ce système fournit des mesures fiables des paramètres de la plaquette tels que l'épaisseur, la planéité et l'uniformité du revêtement. Il est également polyvalent, capable de mesurer un large éventail de tailles de plaquettes et d'applications, des dispositifs MEMS et LED aux circuits semi-conducteurs. KLA HRP 350 utilise une unité d'alignement optique avancée, permettant des mesures rapides et répétables. Cela permet à la machine de détecter avec précision les variations les plus faibles des valeurs des paramètres de la plaquette. L'outil est conçu pour passer rapidement entre différents modes de mesure et peut supporter une variété de types de plaquettes, tels que le silicium, le GaAs et le quartz. TENCOR HRP-350 est un actif à haut débit, capable de tester simultanément jusqu'à 24 échantillons de plaquettes. Cela permet d'économiser du temps et des coûts, car le modèle peut être rapidement modifié pour accueillir de plus grandes tailles de lot. De plus, le TENCOR HRP 350 peut être configuré pour fonctionner avec une gamme d'accessoires, tels qu'un équipement de reconnaissance d'échantillons basés sur la vision, afin d'automatiser davantage le traitement des échantillons. En plus de la capacité de métrologie optique, HRP-350 offre des capacités de profilage laser, permettant une caractérisation de surface détaillée des plaquettes. Cela comprend la capacité de mesurer la hauteur de surface et les valeurs de rugosité. KLA/TENCOR HRP-350 est également équipé d'un système de profilage unique pour mesurer la variation de l'épaisseur. KLA HRP-350 est également adapté à une large gamme d'applications de détection de défauts. Une caméra de détection des défauts est incluse afin d'identifier les défauts de surface et de surveiller les éléments non spécifiés. Cette caméra utilise également des algorithmes d'analyse avancés pour décrire avec précision les défauts, tels que la taille et les caractéristiques de forme. Dans l'ensemble, HRP 350 Wafer Testing and Metrology Unit est une solution complète pour mesurer et caractériser un large éventail de paramètres et de défauts de wafer. L'alignement optique avancé, la capacité à haut débit et les options d'accessoires polyvalentes font de KLA/TENCOR HRP 350 un excellent choix pour toutes les applications de test et de métrologie des plaquettes et des semi-conducteurs.