Occasion KLA / TENCOR / ICOS T830 #9188177 à vendre en France

KLA/TENCOR/ICOS T830 est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour analyser rapidement les caractéristiques physiques d'un large éventail d'appareils et de substrats. Le système est basé sur la dernière génération de technologie d'imagerie spectroscopique et de métrologie propriétaire, permettant une inspection et une métrologie de haut débit, de haute précision et rentable des wafers semi-conducteurs les plus avancés d'aujourd'hui. KLA T830 exploite la puissance de la spectroscopie optique avancée et de l'imagerie pour faciliter l'inspection rapide de la détectabilité des défauts, l'inspection des défauts en 3D, la mesure de superposition et une variété d'algorithmes spectroscopiques et d'imagerie. Le Micro Imaging Unit intégré, ou MIS, fournit une imagerie de résolution radiométrique de 14 bits et permet à la machine d'identifier rapidement un large éventail de défauts et de particules sur la plaquette. L'outil peut être mis en place pour effectuer des mesures et des contrôles de défauts sur deux plaquettes en même temps. Le module de métrologie de l'ICOS T830 fournit une métrologie intégrée sans contact de dimension optique critique (CD) et comprend des capacités avancées de cartographie 3D et d'Autofocus. La fonction de métrologie spécialisée au niveau du nanomètre de l'actif permet à TENCOR T830 de mesurer avec précision de petites cibles telles que celles trouvées sur les nœuds de l'appareil sans préparation ou étalonnage supplémentaire. Le modèle peut également être utilisé pour diverses autres tâches de métrologie, telles que la rugosité, la profondeur, la hauteur, la hauteur des marches et la mesure du profil 3D. Pour garantir des résultats précis et en temps opportun, le module de métrologie dispose également d'un AutoStage propriétaire qui pilote intelligemment la concentration pour obtenir rapidement les résultats les plus précis. T830 est crédité de plusieurs caractéristiques qui augmentent le débit et la complexité. Son optique avancée permet une acquisition rapide des données et son suivi automatisé des objets en mouvement améliore la répétabilité. Sa suite logicielle intelligente intègre le contrôle algorithmique d'une variété de paramètres, y compris l'introduction d'algorithmes de correction, pour optimiser l'utilisation de sondes multiples, permettant un plus grand débit avec moins de retravaillement. La capacité de KLA/TENCOR/ICOS T830 à suivre plusieurs plaquettes par équipement augmente considérablement le débit d'échantillon. KLA T830 offre une combinaison puissante de vitesse, de précision et de facilité d'utilisation pour s'assurer que les besoins d'essai et de métrologie des plaquettes sont satisfaits sur les plaquettes les plus avancées. Le système est un outil fiable qui aide à repousser les limites de la précision et de la complexité, tout en fournissant des résultats rapides et rentables.