Occasion KLA / TENCOR M 300 #9226127 à vendre en France

KLA/TENCOR M 300 Wafer test and metrology solution est une plate-forme d'imagerie optique avancée spécialement conçue pour les applications de fabrication et de contrôle de processus. Utilisant des motifs brevetés uniques, l'équipement mesure le signal électrique quantique des plaquettes intégrées avec une précision et une précision extrêmes. Les étages à moteur à tête optique et pas de la plate-forme KLA M 300 permettent la mesure de grande surface et l'imagerie haute résolution sur une large gamme de niveaux de défauts. Cela lui permet d'analyser avec précision les micro-défauts et les contaminants - tels que les poussières et les vides - qui peuvent nuire à la performance du dispositif. Il peut également détecter les impacts d'intégration de processus qui peuvent se produire lorsque les processus de lithographie affectent la (les) couche (s) périphérique (s) du CI. Les capacités d'imagerie du système comprennent la classification automatique des défauts (CDA) et les fonctions d'inspection et d'examen (I&R) pour l'examen rapide et complet et le transfert des images et des données acquises. L'unité peut détecter des défauts de taille 10nm et jusqu'à 3 σ répétabilité. En outre, la plate-forme est très modulaire, ce qui permet l'utilisation de plusieurs têtes optiques canalisées et l'imagerie de plein champ de pointe. La plate-forme TENCOR M 300 comporte également plusieurs avantages tels que CoAr et les applications de double-brassage. Les applications CoAr permettent un temps de test rapide, ainsi qu'une grande précision du balayage pour détecter les impacts d'intégration de processus et les micro-défauts. Cela équivaut à une augmentation du débit et de l'épargne monétaire. L'application à double découpage est une technique automatisée de détection de défauts à deux canaux, qui utilise deux zones distinctes pour inspecter une seule plaquette. La sortie de M 300 est gérée par le logiciel KLA AMPLEX, car elle traite et stocke toutes les images et les données associées, ce qui permet une comparaison rapide et facile. En outre, la plate-forme est conçue pour un entretien facile et peut être mise à niveau rapidement et de façon rentable. KLA/TENCOR M 300 Wafer test and metrology solution est une machine de pointe qui est très fiable, fiable et fournit précision et précision dans n'importe quel environnement. Avec sa technologie et sa capacité inégalées, il est l'outil parfait pour assurer la manufacturabilité et le contrôle des processus.