Occasion KLA / TENCOR M-GAGE 200/300 #293766227 à vendre en France

KLA M-GAGE 200/300 est un équipement avancé de métrologie et d'essai de plaquettes conçu pour la recherche et la production de semi-conducteurs. Ce système offre des capacités complètes de métrologie et de test de plaquettes dans une plate-forme unique et intégrée. Il combine une métrologie optique avancée et des capacités d'essais mécaniques avancées pour fournir la plus grande précision et précision dans la détermination des propriétés des dispositifs. L'unité fournit une caractérisation complète de l'épaisseur de la plaquette, la planéité et les données de profil, ainsi que la mesure de la hauteur des marches, l'identification des couches et des matériaux et divers paramètres électriques. La machine utilise une métrologie optique de pointe combinée à des capacités d'essais mécaniques, ce qui permet de mesurer avec précision et de rendre compte des données relatives aux procédés et aux dispositifs. Doté d'un processus d'étalonnage électromécanique unique en deux étapes, cet outil garantit des mesures reproductibles précises et des résultats très précis. L'étalonnage en deux étapes permet d'obtenir une grande vitesse et une grande précision dans toutes les mesures, de minimiser la variabilité du produit et d'assurer des performances constantes dans toutes les séries de production. L'actif dispose également d'un modèle de traitement de données robuste, fournissant une suite complète de wafer traitement et des capacités de métrologie. Cet équipement peut intégrer des sources de données telles que l'Auto Fab, l'auto-inspection et les images SEM, permettant une analyse complète de l'ensemble de la plaquette. Les données sont analysées et stockées à des fins de production ou d'ingénierie et peuvent être utilisées pour analyser chaque caractéristique de la plaquette et élaborer des stratégies correctives, préventives ou d'amélioration du produit. Le système est alimenté par une gamme de plateformes logicielles populaires telles que WinTec, Clear Edge et LightSphere. Ces programmes offrent des fonctions complètes d'acquisition et de traitement des données des wafers et des appareils, ce qui permet aux chercheurs et au personnel de production d'analyser et d'interpréter rapidement et avec précision les données des wafers. TENCOR M-GAGE 200/300 est une unité de test de métrologie et de wafer de pointe conçue pour être utilisée dans des applications de recherche et de production prestigieuses de semi-conducteurs. Grâce à ses capacités de métrologie optique avancées, à ses essais mécaniques et à sa manipulation robuste des données, cette machine fournit la plus grande précision, précision et cohérence pour le traitement et l'inspection d'une gamme de données de métrologie et d'appareil. Cet outil est sûr d'être un atout important pour toute installation de recherche et de production de semi-conducteurs ou d'appareils.