Occasion KLA / TENCOR OP3290 #9142578 à vendre en France

KLA / TENCOR OP3290
ID: 9142578
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2001
Film thickness measurement, 8" 2001 vintage.
KLA/TENCOR OP3290 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé pour inspecter des structures de circuits sur des plaquettes semi-conductrices pour vérifier le rendement et les performances des dispositifs, des produits et des dispositifs. Il est couramment utilisé dans les industries de la microélectronique et de la photonique pour aider à accélérer la fabrication et à améliorer la qualité des produits finis. KLA OP3290 fournit des mesures fiables et répétables, telles que les dimensions critiques (CD), l'oxydation, le dopage, la profondeur de gravure et le comptage des défauts. TENCOR OP 3290 est un système automatisé de test de plaquettes composé d'un microscope optique haute résolution, d'une caméra CCD haute résolution et d'un spectromètre haute vitesse. Le microscope optique permet à l'utilisateur d'examiner les structures du circuit sur la plaquette. La caméra CCD fournit un outil puissant pour capturer des images haute résolution de la structure du circuit et pour générer l'analyse détaillée et la quantification des dimensions critiques (CD) et d'autres caractéristiques du circuit. Le spectromètre est utilisé pour mesurer la composition et la concentration de différents matériaux présents dans la structure du circuit. TENCOR OP3290 est capable de mesurer, d'analyser et d'évaluer l'épaisseur, la planéité, la concentration en CD, les niveaux d'oxydation, la profondeur de gravure et d'autres aspects de la structure de la plaquette. Il dispose d'une variété d'outils automatisés de test des plaquettes et de métrologie, y compris la métrologie, le suivi automatique et l'analyse de scène. Ce module est utilisé pour mesurer l'épaisseur des films de sonde sur la plaquette, la planéité des caractéristiques de surface et l'épaisseur des couches de circuit. Le module Auto-tracking permet une mesure rapide et précise des dimensions critiques (CD) et des décalages latéraux. Le module Stage Scan permet la cartographie et l'imagerie automatisées de toute la surface de la plaquette. KLA OP 3290 est une unité avancée avec une interface utilisateur personnalisable et une variété d'outils logiciels pour afficher des données, effectuer des calculs et générer des rapports. Il comprend également une bibliothèque de classifications des défauts et de paramètres utilisés pour l'analyse et la caractérisation des défauts. La machine est conçue pour fonctionner avec une variété de matériaux semi-conducteurs, dont le silicium, l'arsenide de gallium, le phosphure d'indium et le silicium sur isolant (SOI). L'outil KLA/TENCOR OP 3290 est un outil essentiel dans la production de produits de la plus haute qualité. Son optique haute résolution, ses outils de test automatisés des plaquettes et son puissant logiciel d'analyse des défauts en font un ajout inestimable au procédé moderne de fabrication des semi-conducteurs.
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