Occasion KLA / TENCOR Optiprobe 3260 #9269305 à vendre en France

KLA/TENCOR Optiprobe 3260 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour la qualité avancée et le contrôle des processus. KLA Optiprobe 3260 prend en charge un ensemble de paramètres de wafer tels que topographie de surface, micro défauts, ainsi que la classification automatisée des défauts. TENCOR Optiprobe 3260 utilise la microscopie à balayage pour mesurer la topologie de surface de la plaquette. Le système comprend un capteur obturé qui peut détecter des particules de moins de 5 μ m de diamètre. En utilisant la microscopie optique, l'unité est capable de vérifier les micro-défauts ou les dommages dans la plaquette. La machine comprend également des optiques avancées pour le balayage et l'analyse d'images à haute résolution. Optiprobe 3260 comprend un outil de sonde supérieur qui utilise une inspection de haute précision pour examiner un large éventail de motifs. L'actif dispose également d'un algorithme propriétaire de classification des défauts numériques (DDC) pour classer automatiquement les défauts identifiés en fonction de leur taille et de leur forme, ainsi que pour permettre un contrôle avancé des processus. De plus, KLA/TENCOR Optiprobe 3260 a un modèle de superposition propriétaire qui mesure avec précision la précision de superposition des plaquettes. KLA Optiprobe 3260 comprend des technologies avancées de reconnaissance des motifs et de réduction des défauts pour réduire considérablement les fausses alarmes et raccourcir la durée du cycle d'essai. L'équipement dispose également d'un logiciel de test automatisé qui permet aux fabricants de programmer et d'exécuter rapidement des tests pour obtenir les meilleurs résultats possibles. Pour une production à haut débit, TENCOR Optiprobe 3260 dispose d'un capteur à basculement rapide qui permet aux fabricants de maintenir la qualité et le débit même dans des conditions de débit élevé. En outre, le système dispose de capacités avancées d'analyse et de déclaration des données, permettant une comparaison précise des wafers pendant les cycles d'essai et permettant un contrôle automatisé des processus. Les fonctions d'analyse et de déclaration des données d'Optiprobe 3260 comprennent la capacité d'indexer et de comparer les wafers, ainsi que la capacité de déterminer le rendement et l'efficacité des processus. L'unité fournit également des rapports personnalisés qui sont adaptés aux besoins spécifiques du client. KLA/TENCOR Optiprobe 3260 répond aux normes les plus élevées en matière d'essais de plaquettes et de métrologie. La combinaison unique de matériel avancé, d'algorithmes exclusifs et de capacités robustes d'analyse et de rapports de données garantit aux fabricants les meilleurs tests de performance et d'optimisation.