Occasion KLA / TENCOR P-170 #293799729 à vendre en France

KLA/TENCOR P-170 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la recherche et le développement de semi-conducteurs et de matériaux avancés. Il offre une gamme complète de capacités de test, de mesure et de caractérisation, permettant aux chercheurs en matériaux de comprendre rapidement et avec précision les propriétés électroniques et structurelles des matériaux semi-conducteurs et avancés. Au cœur du système se trouve un nouveau microscope à balayage à 6 axes hautement intégré (SPM), qui combine la résolution à l'échelle du nanomètre avec un scanner de haute précision. Cette combinaison permet aux utilisateurs d'effectuer des mesures complexes sur toute la surface d'une plaquette en un seul balayage, permettant une analyse rapide et détaillée des propriétés du matériau telles que la résistance de contact, la topographie et les performances du dispositif. L'unité dispose également d'une machine de profilage 3D haute vitesse qui utilise une source laser de faible cohérence, associée à une plate-forme matérielle et logicielle conçue sur mesure pour acquérir des profils de caractéristiques de plaquettes en quelques secondes, fournissant un outil inestimable pour le détail interactif et la visualisation des caractéristiques d'échelle nanométrique. Les fonctionnalités supplémentaires de KLA P-170 comprennent des capacités avancées de conception et de mise en page de puces, des algorithmes de métrologie intégrés, des routines d'auto-test indépendantes de la température, et une suite complète de logiciels pour une analyse améliorée. L'interface graphique intuitive simplifie la tâche de mise en place, d'exploitation et d'analyse des données de l'outil, permettant aux utilisateurs expérimentés et novices d'obtenir des résultats précis avec un minimum d'effort. Dans l'ensemble, TENCOR P-170 s'appuie sur des années de recherche et de développement de pointe dans l'industrie, offrant aux utilisateurs des capacités d'essai et de métrologie puissantes et fiables pour les matériaux semi-conducteurs et avancés. Du profilage rapide des plaquettes à l'analyse précise et détaillée des pores, P-170 fournit un aperçu et une résolution inégalés des propriétés électroniques et structurelles des matériaux.