Occasion KLA / TENCOR P-170 #293800460 à vendre en France

KLA/TENCOR P-170 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme de métrologie haute performance qui fournit des mesures et des analyses précises et automatisées des wafers, des semi-conducteurs et des dispositifs MEMS. KLA P-170 dispose de capacités de métrologie optique avancées pour l'analyse précise des caractéristiques des appareils dans l'environnement de production des plaquettes. Il offre une imagerie et une analyse avancées et sans contact des appareils, fournissant une méthode fiable de mesure et de quantification des performances des plaquettes. TENCOR P-170 dispose d'un étage de plaquette motorisé, d'un sous-système optique intégré et d'une interface utilisateur intuitive pour un fonctionnement et une configuration faciles. L'étage motorisé déplace la plaquette vers une série de positions, précises et précises, permettant l'analyse de toutes les zones planes de la plaquette. Le sous-système optique est composé de caméras haute résolution qui peuvent détecter les plus petites caractéristiques sur la plaquette au fur et à mesure du déplacement de l'étage, créant une image détaillée de la topographie de la plaquette. L'interface utilisateur intuitive permet une configuration rapide et la saisie de données pour un flux de travail facile. P-170 dispose également de capacités de positionnement et d'alignement des espaceurs de haute précision pour les zones difficiles d'accès. KLA/TENCOR P-170 peut mesurer un large éventail de caractéristiques, y compris des paramètres critiques qui sont couramment utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs tels que CD et superposition. Le système peut mesurer les dimensions du dispositif avec la précision du sous-nanomètre, ainsi que les caractéristiques de surface plane, permet d'identifier rapidement toute non-conformité possible dans le processus de fabrication. KLA P-170 permet également un tri et une cartographie automatisés efficaces des appareils, simplifiant le processus d'analyse des plaquettes dans la chaîne de production. Pour un environnement de production automatisé, TENCOR P-170 offre des capacités avancées comme AutoFocus, qui permet des mesures continues de CD ou de composition en aussi peu que 35 secondes. L'unité dispose également d'indexation à grande vitesse et de correction de terrain, garantissant l'uniformité et la précision de toutes ses mesures. En outre, P-170 offre la flexibilité d'intégrer avec d'autres outils ou parties de la ligne de production, rationalisant les processus. Globalement, KLA/TENCOR P-170 Wafer Testing and Metrology Machine est une solution tout-en-un qui permet une analyse rapide, précise et répétable des plaquettes, des semi-conducteurs et des dispositifs MEMS. Avec ses capacités de métrologie avancées, des mesures de haute précision, une interface utilisateur intuitive et une automatisation avancée, KLA P-170 fournit une méthode précise et efficace d'analyse des wafers dans l'environnement de production.