Occasion KLA / TENCOR P-170 #293800571 à vendre en France
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ID: 293800571
Taille de la plaquette: 4"-6"
Style Vintage: 2021
Surface profiler, 4"-6"
Chuck, 8"
Cassette, 8"
Wafer type: LT / BD / SI
SECS / GEM
Automatic transfer hander
Wafer thickness: 200 µm to 675 µm
Alignment for notch and flatted wafers
Constant stylus focus control
(5) Measurement heads
Monitor
Dual view optics (top and side)
Field of view: 850 x 1200 µm
Digital camera: 5 MP Color
Motorized level and theta axis
Stylus with radius: 2 µm
ProCal Wafer, 8"
Controller
Laser
Dongle
Operating system: Windows 7
PC
Manuals
2021 vintage.
KLA/TENCOR P-170 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour fournir des résultats très précis et reproductibles. Il offre un fonctionnement semi-automatique, avec un fonctionnement manuel précis lorsque nécessaire pour des tâches plus raffinées. La grande précision du système est due à sa capacité à mesurer les défauts au niveau de la filière et de la plaquette sur la jonction de type p du dispositif tout en fournissant des images détaillées intégrées pour une analyse plus précise. L'unité dispose d'une chambre de travail longue qui fournit une grande exposition à la lumière et est capable de manipuler des mesures à haute résolution. Cette chambre est couplée thermiquement et électroniquement à la machine optique, d'où une grande précision et répétabilité des mesures. En outre, l'outil est équipé d'une interface conviviale qui permet d'éditer et de gérer facilement les résultats et les données. KLA P-170 dispose d'une variété de fonctions conçues pour tester et mesurer les plaquettes avec une grande précision. L'actif est capable de cartographie au niveau de la matrice, d'analyse des défaillances au niveau de la matrice et de densités de défauts au niveau de la matrice. Il offre également un mode de cartographie de faible luminosité, permettant au modèle d'enregistrer des images avec la meilleure résolution possible. De plus, l'équipement comprend la densité de ligne, l'uniformité de la matrice, l'analyse des défauts, la métrologie de recouvrement, les modèles de mesure et les corrections de courbe personnalisées. Pour plus de commodité, le système est équipé d'une variété de logiciels qui peuvent être commutés entre différentes versions pour créer des programmes personnalisés pour les tests de plaquettes et la métrologie. Les routines d'étalonnage intégrées permettent une configuration et une utilisation faciles, et le moniteur d'intégrité des plaquettes fournit une rétroaction rapide sur tout problème potentiel qui pourrait avoir été manqué par l'utilisateur. En conclusion, TENCOR P-170 est une unité d'essai et de métrologie de plaquettes technologiquement avancée capable de fournir des résultats très précis et reproductibles. La machine est conçue ergonomiquement pour permettre aux utilisateurs d'effectuer facilement des tests et des mesures complexes tout en conservant un haut degré de précision. L'outil offre également plusieurs fonctionnalités qui le rendent très efficace et rentable pour les opérations de recherche et de production.
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