Occasion KLA / TENCOR P-20H #293652635 à vendre en France

KLA/TENCOR P-20H est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes qui fournit des capacités de test et de métrologie des plaquettes haute vitesse et haute précision pour la production de dispositifs semi-conducteurs. Le système est conçu pour une caractérisation rapide et précise de la qualité des plaquettes et un contrôle adaptatif des processus, permettant la production de produits de plaquettes de haute performance. Il dispose d'une vaste gamme de technologies de métrologie, y compris l'analyse optique, électrique, mécanique et chimique qui est conçu pour permettre l'essai de plaquettes et les performances de la métrologie dans un large éventail d'applications. KLA P20H combine des technologies d'imagerie avancées et des techniques de caractérisation optique, électrique, mécanique et chimique avancées pour identifier et analyser les défauts des plaquettes. Il utilise un appareil photo numérique pour visualiser la plaquette et combine l'imagerie focalisée avec l'imagerie de diffusion à angle variable pour fournir une imagerie haute résolution pour la détection des défauts, la classification et l'optimisation des processus. Un éventail d'outils sont intégrés, y compris la cartographie automatisée et l'analyse des défauts, l'alignement des superpositions, les outils de suivi des processus, les techniques de traitement du signal et les algorithmes avancés d'analyse des données. L'unité offre des capacités de test automatisé non destructif (NDT), permettant un haut degré de précision et de répétabilité dans les essais de plaquettes et la métrologie. La grande vitesse de TENCOR P 20H garantit que les essais des plaquettes sont effectués rapidement, ce qui permet un ajustement rapide des processus de production. En plus de ses capacités NDT, TENCOR P-20H propose des analyses de métrologie avancées et des progiciels intégrés pour permettre une caractérisation précise des processus de wafer et des performances de métrologie. Une grande variété de logiciels, tels que Metrology Analysis Tool (MAT) et Process Analytic Machine (PAS), sont disponibles pour l'analyse de métrologie. P 20H offre également une traçabilité complète et l'archivage des données. Il permet la traçabilité complète et l'archivage des données des analyses de métrologie, ce qui est essentiel pour la résolution de problèmes et l'optimisation des processus. KLA P 20 H est un outil avancé qui fournit des capacités complètes d'essai de plaquettes et de métrologie. Il offre un moyen très efficace et précis de test de plaquettes et de métrologie, permettant aux utilisateurs d'optimiser leurs processus pour améliorer les rendements et les performances des produits.