Occasion KLA / TENCOR P-7 #293632302 à vendre en France

KLA/TENCOR P-7 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la production avancée de dispositifs semi-conducteurs. Il offre une suite complète de métrologie qui permet aux opérateurs d'évaluer les paramètres sur plaquette tels que l'épaisseur du film, la largeur de ligne, la superposition et les performances du transistor. Il offre une façon intégrée, automatisée et répétable de caractériser avec précision les caractéristiques des plaquettes de manière rapide et non invasive. Construit avec une optique et un matériel de pointe, KLA P-7 offre une résolution, une vitesse et une fiabilité supérieures. Pour atteindre cette performance, le système utilise des techniques d'éclairage multi-canaux multifonctions pour mesurer et analyser les caractéristiques de la surface de la plaquette rapidement et de façon fiable. L'unité d'imagerie haute résolution détecte automatiquement les défauts, caractérise la dimension critique et réalise l'imagerie FIB pour une analyse rapide. Il peut également lire de grandes matrices (300mm) avec une grande précision. En même temps, la machine dispose d'un algorithme avancé d'appariement de motifs qui supporte la reconnaissance de motifs et l'appariement de die-to-die sur de grandes zones. TENCOR P7 est capable d'acquérir et de traiter des données rapidement et avec précision. Ses algorithmes de traitement de données embarqués et ses fonctions mathématiques permettent d'analyser et d'identifier des processus pour optimiser les performances des appareils avec une répétabilité considérable. L'outil est également équipé d'une interface utilisateur graphique intuitive (interface graphique) avec des fonctionnalités faciles à comprendre et des menus. En outre, l'actif dispose d'un modèle de gestion thermique intégré très efficace qui assure la stabilité de la température, la précision et le contrôle. Ceci garantit la plus grande précision dans les essais de plaquettes et la métrologie quelle que soit la température. De plus, la solution est très tolérante aux pannes et sans risque de défaillance, en veillant à ce que les mesures soient sûres, fiables et précises. Dans l'ensemble, l'équipement KLA/TENCOR P 7 Wafer testing and Metrology est un excellent choix pour la production avancée de dispositifs semi-conducteurs. Ses solutions intégrées, une gestion thermique efficace et des algorithmes de traitement de données puissants en font l'outil parfait pour mesurer et analyser rapidement et avec précision les caractéristiques de la surface de la plaquette.