Occasion KLA / TENCOR P-7 #293665117 à vendre en France

KLA/TENCOR P-7 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la fabrication de composants semi-conducteurs. Il fournit des analyses très précises des plaquettes afin d'optimiser le contrôle du processus et le rendement. KLA P-7 combine l'imagerie haute résolution avec de puissantes capacités de métrologie pour la mesure des plaquettes et l'inspection des défauts. Le système dispose d'une conception modulaire qui permet une configuration flexible, permettant aux utilisateurs de construire l'unité qui correspond le mieux à leurs spécifications et besoins. Ses moteurs et ses contrôleurs offrent une plus grande précision dans le contrôle du mouvement pour une meilleure répétabilité des mesures. Le logiciel permet également des tests automatisés au niveau des plaquettes pour détecter les problèmes de processus précoces. TENCOR P7 offre également des capacités d'imagerie améliorées, y compris une variété de détecteurs CCD tels que sCMOS et TDI, ainsi qu'une gamme d'options d'éclairage, y compris le champ noir, le champ lumineux, le contraste d'interférences différentielles (DIC), et Nomarski. Ces options peuvent être combinées pour fournir une plus grande précision dans la détection de phénomènes optiques subtils. Pour mesurer avec précision les motifs sur la plaquette, P-7 dispose également d'une capacité de métrologie haute résolution haute performance, qui est capable de mesurer les caractéristiques critiques jusqu'à 5nm. Cela permet de mesurer avec précision les emplacements de motifs, les dimensions critiques et d'autres caractéristiques qui garantissent la performance et la fiabilité de l'appareil. P7 offre également une combinaison de capteurs spécialisés, de scopes, de spectroscopie et de modules de métrologie spécialisés pour fournir l'ensemble le plus complet d'outils pour la mesure des plaquettes et l'inspection des défauts. Cette combinaison de technologies fournit aux utilisateurs une solution complète pour des tests et des analyses de plaquettes précises. Dans l'ensemble, KLA P7 offre une machine de test et de métrologie puissante et polyvalente conçue pour optimiser le contrôle des processus, le rendement et les performances des dispositifs semi-conducteurs. Sa combinaison d'imagerie, de métrologie, de capteurs et d'échelles spécialisés fournit aux utilisateurs un outil facile à configurer qui peut mesurer et inspecter avec précision les plaquettes.