Occasion KLA / TENCOR P-7 #9204283 à vendre en France

KLA / TENCOR P-7
ID: 9204283
Film thickness measurement system Procal wafer VLSI Standard sample Includes PC & Shock absorbing desk.
KLA/TENCOR P-7 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la caractérisation complète des plaquettes et dispositifs semi-conducteurs. Il est basé sur un système exclusif et complet de métrologie PicoTOUCH Contour qui permet des mesures rapides, précises et sûres. Cette unité utilise l'interférométrie laser de haute précision pour fournir des mesures sans contact utilisées pour mesurer la topographie de surface des plaquettes et des surfaces du dispositif. La machine s'appuie également sur un logiciel d'analyse de données et de caractérisation de processus développé sur mesure pour analyser et rendre compte des résultats. Le logiciel se compose de plusieurs modules, dont une interface graphique de visualisation, un moteur d'acquisition et d'analyse de données à haut débit, et des modules d'extraction et de communication de données et de variables descriptives. Il comprend un large éventail d'algorithmes sophistiqués pour s'assurer que les mesures sont exactes, reproductibles et fiables. KLA P-7 dispose de capacités de montage doubles ; il peut monter et inspecter deux plaquettes à la fois, permettant un débit efficace. A l'aide de ce double composant, il est possible de mesurer avec précision plusieurs dispositifs sur une même plaquette simultanément. Grâce à des algorithmes avancés, l'outil peut identifier des appareils individuels sur la plaquette et les isoler pour une analyse individuelle. L'actif utilise des modèles intégrés prêts à faire rapport pour permettre un formatage rapide et facile des données d'inspection pour une comparaison et une analyse complètes de l'ensemble de la plaquette et des caractéristiques et dispositifs spécifiques. De plus, le modèle comprend également un équipement d'imagerie haute vitesse avancé pour saisir diverses caractéristiques importantes au niveau des plaquettes, comme la contamination des particules, la présence de zones défectueuses et l'uniformité des gravures. Ce système avancé de test et de métrologie des plaquettes est idéal pour le contrôle de la qualité et l'optimisation des processus dans diverses industries. L'unité est facile à installer, à utiliser et à entretenir tout en fournissant des informations précieuses pour améliorer le contrôle du processus et le rendement dans le processus de production.
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