Occasion KLA / TENCOR P1 #165277 à vendre en France

KLA/TENCOR P1 est un équipement de pointe d'essai et de métrologie des plaquettes qui facilite l'inspection, l'essai et l'analyse précises et efficaces des plaquettes semi-conductrices. Le système peut mesurer un large éventail de caractéristiques des plaquettes, y compris des caractéristiques telles que l'épaisseur, la résistance électrique, la réflectance optique et plus encore. KLA P-1 est conçu avec une architecture modulaire permettant d'intégrer une gamme de composants tels que les scanners et les sondes pour une variété de processus de test de plaquettes. L'unité de base TENCOR P1 est la machine P1-V (Vision), qui est adaptée pour le test d'éléments 2D tels que matrices et plots de contact. L'outil TENCOR P1-G (GaDRS) est conçu pour tester des éléments 3D tels que des tranchées profondes et des vias de connexion. L'actif KLA P 1-AM (Array Measurement) est adapté aux processus de test de wafer avec des exigences de débit élevées. La technologie de base de la plate-forme KLA P1 est sa capacité d'imagerie haute résolution, qui est basée sur l'imagerie multi-spectrale automatisée sur plusieurs longueurs d'onde. Cela permet d'analyser et de contrôler précisément chaque plaquette, tandis que le balayage dynamique permet de mesurer avec précision plusieurs régions et avec un débit élevé. En outre, la plate-forme P-1 offre Giga-pixel Imaging pour supporter la résolution au niveau industriel pour toutes les applications de mesure de tableau. Diverses sources lumineuses peuvent être intégrées dans la plate-forme pour supporter les applications de l'inspection 2D, jusqu'à la vue stéréoscopique des éléments 3D. Le modèle P 1 comprend également des logiciels avancés pour l'acquisition, l'analyse et la communication de données. Le logiciel TENCOR P-1 offre une flexibilité maximale pour la sélection, la manipulation et l'analyse des plaquettes. De nombreuses fonctionnalités intégrées telles que l'automatisation, la gestion de bases de données, une interface utilisateur graphique (interface graphique) et des capacités d'archives d'images permettent des opérations à haut débit. Pour garantir une efficacité et une précision maximales, l'équipement KLA/TENCOR P-1 est supporté par des capteurs intégrés et des alimentations en boucle fermée pour contrôler, entretenir et ajuster les réglages des appareils. Les processus de contrôle et d'étalonnage de la qualité peuvent être facilement mis en œuvre. Le système permet également de connecter plusieurs sondes et instruments, permettant d'effectuer des processus parallèles faciles tout en mesurant différentes parties d'une même plaquette. Globalement, la plate-forme KLA/TENCOR P1 est une unité puissante et fiable pour les besoins d'essai et de métrologie de l'industrie des semi-conducteurs. L'imagerie haute résolution, les logiciels puissants et les capteurs automatisés permettent des mesures efficaces, précises et fiables. La conception modulaire est également une caractéristique attrayante en raison de la facilité d'intégration, la rentabilité et l'évolutivité.