Occasion KLA / TENCOR P1 #171037 à vendre en France

KLA/TENCOR P1 est un équipement automatisé de métrologie et de test de plaquettes conçu pour le processus de fabrication de semi-conducteurs. Il permet d'évaluer et d'analyser rapidement les caractéristiques structurelles des photomasques et des plaquettes, en fournissant aux travailleurs de l'industrie une précision supérieure à ce qui pourrait être réalisé manuellement. Les composants intégrés du système utilisent des techniques de métrologie, comme l'inspection optique 2D et 3D et la scatterométrie, ainsi que des tests au niveau des plaquettes et l'analyse du rendement électrique. La combinaison de ces deux technologies permet à l'unité d'inspecter et d'analyser les propriétés physiques et électriques des plaquettes. La machine est capable d'analyser des motifs jusqu'à une résolution de 10nm, et peut être utilisée dans l'inspection avant et arrière des plaquettes, permettant une inspection visuelle précise des deux couches. Cela permet de détecter une variété de défauts dans la plaquette, tels que les délaminations, la contamination, les copeaux et les rayures. KLA P-1 intègre également le traitement avancé du signal pour améliorer la précision des résultats des tests. L'outil recueille et stocke des données de dizaines de points sur la plaquette, permettant aux utilisateurs de suivre avec plus de précision que jamais les propriétés telles que la résistance électrique et l'intégrité du signal. L'actif dispose d'une interface d'écran tactile facile à utiliser, permettant aux utilisateurs de faire des ajustements rapides et précis aux paramètres du modèle ou d'effectuer des tâches d'analyse de données. Les fonctionnalités avancées telles que la collecte automatique de données et la génération de rapports peuvent être facilement activées ou désactivées en quelques clics. En plus de ses fonctions de métrologie et de test des plaquettes, TENCOR P1 fournit également un équipement intégré de contrôle des processus de fabrication, qui permet aux utilisateurs de contrôler la qualité de leurs produits au fur et à mesure de leur fabrication. Ce système peut alerter les utilisateurs sur les problèmes potentiels à mesure qu'ils surgissent, leur permettant de prendre des mesures correctives rapidement et efficacement. P1 offre une flexibilité et une précision accrues par rapport aux systèmes traditionnels d'essais et de métrologie, ce qui en fait la solution idéale pour les usines de semi-conducteurs et autres industries axées sur la technologie. En simplifiant le processus d'essai et de contrôle de la production des plaquettes, cette unité contribue à réduire considérablement les coûts de production tout en conservant les ressources et en améliorant les rendements.