Occasion KLA / TENCOR P1 #293608771 à vendre en France

KLA/TENCOR P1 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui vise à fournir une méthode très précise et rentable pour aider les clients à inspecter et mesurer leurs produits. Il utilise à la fois des capteurs d'imagerie et la technologie de reconnaissance de motifs pour analyser les propriétés physiques et électriques des dispositifs, y compris la structure et l'épaisseur de couche des dispositifs semi-conducteurs pour l'optimisation et le contrôle des processus. Le système est conçu pour des applications couvrant toutes les étapes de la fabrication des plaquettes, de l'inspection des plaquettes à la métrologie finale. Il recueille des informations sur la température, la structure de la couche, la réflectivité, la capacité et les caractéristiques électriques de l'échantillon. La technologie de l'unité fonctionne en recueillant des données pour supprimer les régions indésirables d'une plaquette de test, ce qui permet de visualiser plus facilement les domaines d'intérêt et d'analyser plus rapidement. Il utilise une machine d'imagerie avancée pour mesurer avec précision les structures des plaquettes et l'épaisseur des couches entre 1 et 6 microns et identifier et analyser avec précision les défauts. L'outil d'imagerie consiste en une caméra haute résolution et une diode électroluminescente (LED) qui capturent des images et des vidéos de la plaquette d'essai pour s'assurer des résultats précis de chaque mesure. L'actif est également capable de fournir des données pour une analyse plus approfondie. Il peut fournir des informations sur les caractéristiques du dispositif, la température de la structure, la stabilité du processus et d'autres données pertinentes. KLA P-1 est conçu pour les utilisateurs qui doivent effectuer des mesures de production efficaces sur leurs produits. Il offre plusieurs avantages aux utilisateurs, comme une efficacité accrue des processus, un coût réduit et des temps de cycle plus courts, ce qui leur permet d'optimiser les paramètres des processus et de développer de nouvelles technologies de processus. En outre, le modèle est équipé d'une interface logicielle facile à utiliser pour faciliter l'accès aux données et leur analyse. Le logiciel comprend une gamme d'outils qui permettent aux utilisateurs d'accéder rapidement et facilement, d'analyser et de comparer les données. En conclusion, TENCOR P1 wafer testing and metrology equipment est un système avancé qui fournit aux utilisateurs une méthode très précise et rentable de contrôle et d'optimisation du processus de fabrication des dispositifs semi-conducteurs. Il est équipé de fonctionnalités bénéfiques qui permettent aux utilisateurs de mesurer, d'analyser et de comparer rapidement et avec précision les données. En utilisant l'unité, les utilisateurs peuvent améliorer l'efficacité du processus et réduire les coûts, ce qui leur donne un plus grand degré de précision et de contrôle sur leurs produits.