Occasion KLA / TENCOR P1 #9386653 à vendre en France

KLA/TENCOR P1 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie, de KLA Corporation, conçu pour fournir des mesures de précision avancées et la détection de défauts pour un large éventail de plaquettes et de substrats. Il utilise à la fois la microscopie optique et la technologie d'imagerie à haute résolution pour des mesures sous-microns de haute précision. Le système est capable de supporter des tailles de plaquettes entre 2-7,5 pouces (50,8 mm - 190,5 mm), avec une épaisseur allant de 0,5 à 9,5 mm. L'unité est conçue pour détecter et mesurer les dimensions des défauts sur une plaquette à l'aide d'images de microscopie en champ lumineux et en champ sombre. Cela lui permet de détecter même des défauts extrêmement petits, tels que des particules, des rayures, des fosses et des dépôts. Il est également équipé d'une capacité d'imagerie haute résolution, qui permet des analyses en plongée profonde des plaquettes. Cette caractéristique augmente la capacité de la machine à découvrir et caractériser à la fois le prototypage et les défauts à faible rendement. L'outil est également équipé d'un mécanisme de maintien de la plaquette, qui est conçu pour la protection de la plaquette lors de la mesure. Il est équipé d'un étage d'inclinaison numérique, permettant des angles précis et des mesures précises de la plaquette et de ses défauts. L'actif offre également des fonctionnalités d'automatisation telles que la reconnaissance de motifs et les macros d'automatisation, permettant aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision un grand nombre de plaquettes en peu de temps. KLA P-1 est intégré à une multitude de logiciels d'acquisition pour analyser et analyser les données recueillies à partir des mesures. Ce logiciel d'analyse offre des capacités sophistiquées telles que la caractérisation 3D des surfaces, la cartographie et la numérisation des images 2D, l'analyse des défauts, la densité des défauts et le dimensionnement entre autres. Les données peuvent également être exportées pour être partagées et analysées dans d'autres systèmes. Ce modèle permet de réduire le coût total et le temps requis pour analyser de grands volumes d'échantillons de plaquettes. L'équipement est également équipé d'une interface utilisateur intuitive, qui permet un fonctionnement et une navigation faciles. Il est donc facile pour les utilisateurs expérimentés et les nouveaux utilisateurs de tester et d'analyser le système. L'unité respecte également les normes et protocoles de sécurité, en veillant à ce que les mesures soient effectuées dans les limites de sécurité spécifiées. Dans l'ensemble, TENCOR P1 est une machine très précise et riche en fonctionnalités pour enregistrer, cartographier et mesurer les défauts et autres caractéristiques de surface sur les substrats et les plaquettes. Il est conçu pour des mesures de haute précision et la détection des défauts, permettant aux utilisateurs d'analyser de grandes quantités de données avec précision et efficacité.