Occasion KLA / TENCOR P10 #293590380 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour analyser les dispositifs IC au niveau des plaquettes. Équipé d'une interface série à trois axes, KLA P-10 offre une acquisition de données de haute précision, des mesures rapides et des services automatisés. Capable de détecter des conditions de défaut et des défauts physiques de 0,25 μ m à 0,75 μ m, ce système peut s'intégrer dans les lignes de production existantes. L'unité TENCOR P 10 comprend quatre sous-systèmes : l'alignement, la mesure (optique), l'analyse et les outils WordNet. Le sous-système Alignement offre des capacités avancées d'alignement automatique et de correction de fond, permettant des mesures d'alignement et de trajectoire très précises. Le sous-système Mesure comprend un microscope à polarisation avancée, offrant un rapport signal/bruit élevé et des gains de contraste. De plus, la machine est équipée d'algorithmes puissants de traitement d'image qui minimisent les effets de distorsion tout en maintenant la fidélité du signal. Le sous-système Analyse est construit autour d'un puissant moteur d'analyse de signaux, permettant d'identifier et de classer les défauts aussi petits que 0,25 μ m. Ce sous-système est complété par le logiciel WordNet qui assure la bonne classification des défauts détectés. Le contrôleur d'application d'outils (SAC) permet également à TENCOR P10 de fournir des actions avancées telles que la configuration automatique et le diagnostic au niveau des plaquettes. En outre, le SAC est essentiel pour intégrer TENCOR P-10 dans les systèmes de test existants. Construit avec une technologie robuste et fiable, le P10 est un outil essentiel pour les lignes de production IC. Sa précision, sa précision et sa vitesse en font un choix idéal pour l'identification des défauts et le test des plaquettes. Les capacités de l'actif lui permettent de différencier les fausses défectuosités des vraies défectuosités, contribuant ainsi à garantir la plus haute qualité de l'appareil CI final.