Occasion KLA / TENCOR P10 #293655524 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 Wafer Testing and Metrology Equipment est un instrument d'inspection et d'essai de pointe qui permet d'analyser à haute vitesse le rendement et les défauts des plaquettes. Il offre une combinaison haut de gamme d'examen des défauts du niveau de la plaquette, de cartographie des plaquettes à grande vitesse et de mesures d'essai avec une précision et une résolution des données supérieures. Le système comprend un microscope optique multi-faisceaux pour des images précisément inspectées de toute la surface de la plaquette afin de détecter des défauts à très haute résolution, ainsi qu'une unité de cartographie de la plaquette à grande vitesse pour mesurer des propriétés électriques telles que la résistance de la feuille, la capacité de la feuille et la résistance de contact de la plaquette. KLA P-10 utilise les dernières technologies de métrologie telles que la conception avancée d'objectifs Abbe, le mouvement objectif piézo-actionné, et la machine optique haute définition pour fournir des images extrêmement détaillées avec la résolution top-cran. L'outil optique multi-faisceaux et les outils de calcul avancés permettent à TENCOR P10 de détecter et d'acquérir l'emplacement exact des défauts sur la plaquette. L'atout offre également des capacités d'imagerie à base de sonde laser et liquide pour rendre la précision inégalée des défauts avec pratiquement aucun artefacts ou distorsions. KLA P10 propose également des mesures très rapides et une imagerie automatisée des plaquettes qui permettent une analyse efficace des grandes plaquettes. Le modèle dispose également d'un alignement automatisé qui simplifie l'ensemble du processus d'inspection de plusieurs plaquettes en une seule configuration. Le logiciel inclus est facile à apprendre et à utiliser, et permet des mesures rapides et répétables ainsi que des capacités d'analyse et de rapport avancées. KLA/TENCOR P 10 Wafer Testing and Metrology Equipment est un instrument fiable et de haute précision pour les processus semi-conducteurs les plus exigeants. Son optique avancée, sa capacité de mesure à grande vitesse et son logiciel convivial en font un choix idéal pour l'inspection et les essais des plaquettes dans la ligne de production, la R&D et le développement d'applications avancées.