Occasion KLA / TENCOR P10 #293662984 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour mesurer et inspecter rapidement et avec précision les plaquettes semi-conductrices et autres substrats. Il est intégré à l'optique avancée, le matériel et les logiciels pour la métrologie automatisée, sans contact, l'inspection et la localisation des défauts sur une large gamme de plaquettes et de substrats. Le système est capable d'obtenir des mesures très précises et peut être configuré pour diverses applications d'essai telles que la mesure de l'épaisseur du film, la topographie de surface, la taille des particules et la composition. KLA P-10 utilise des optiques avancées pour capturer des images d'une plaquette ou d'un substrat. Il utilise une unité d'imagerie binoculaire avec trois lasers et trois caméras infrarouges pour acquérir des images 3 dimensions précises de la plaquette ou du substrat. La machine peut alors rapidement évaluer et extraire diverses mesures de l'image, telles que la hauteur, la largeur, la profondeur, le profil de surface et l'épaisseur du film. Les autres capacités comprennent la détection des défauts, la mesure de la largeur des lignes, la mesure du recouvrement et l'inspection spatiale à plat (ISF). TENCOR P 10 dispose d'une interface tactile intégrée qui fournit une interface facile à utiliser pour la programmation et le contrôle de l'outil. L'écran tactile permet également aux utilisateurs d'accéder rapidement aux rapports et aux résultats des tests. L'actif dispose également d'un modèle de gestion automatique des plaquettes optionnel qui permet à l'utilisateur de basculer rapidement entre différents substrats sans avoir à réaligner manuellement l'optique. TENCOR P10 est très configurable et supporte une variété de réglages de puissance, de vitesse et de résolution pour répondre à une large gamme de besoins de tests et de métrologie. L'équipement dispose également d'une capacité avancée de reconnaissance des motifs qui fournit une rétroaction détaillée sur les caractéristiques difficiles à capturer, telles que les caractéristiques des sous-microns, les contaminants et d'autres défauts subtils. En conclusion, le P10 est un système avancé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour mesurer et inspecter rapidement et avec précision les plaquettes semi-conductrices et autres substrats. Il est équipé d'une optique avancée et d'un logiciel de métrologie automatisée, sans contact, d'inspection et de localisation des défauts. L'unité est hautement configurable et supporte une variété de paramètres de puissance, de vitesse et de résolution pour répondre à une large gamme de besoins de tests et de métrologie.