Occasion KLA / TENCOR P10 #293665059 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme intégrée et automatisée pour le test et la métrologie des wafers. Le système est conçu pour une analyse rapide et précise des plaquettes minces, et est capable d'analyser l'épaisseur des plaquettes, l'uniformité et d'autres paramètres jusqu'à des résolutions de sous-microns. L'unité utilise une combinaison de technologies optiques et de radiographie pour mesurer les données de paramètres en temps réel, et permet la capture et la collecte de données dans des formats visuels très détaillés. KLA P-10 Wafer Testing and Metrology Machine se compose de trois composants clés : l'unité de traitement Test-X, la station optique et la station de radiographie. L'unité Test-X est chargée de contrôler l'ensemble du processus d'essai des plaquettes. Il permet le suivi des plaquettes par rapport aux plaquettes, et fournit une manipulation et une manipulation avancées des plaquettes. La station optique fournit une inspection optique en ligne avec un outil d'imagerie haute résolution et des algorithmes puissants pour le traitement et l'analyse des données. La station de rayons X utilise une technologie d'analyse des rayons X qui permet de mesurer avec précision les couches de micro-structures les plus fines et les topographies les plus complexes. TENCOR P 10 Wafer Testing and Metrology Asset offre une gamme complète de capacités d'analyse de données. Il comprend un logiciel complet qui permet aux utilisateurs de traiter et d'analyser les données dans une variété de formats, y compris l'analyse structurelle 3D, la visualisation et l'établissement de rapports. De plus, le modèle peut être utilisé pour diverses applications, telles que la détection des défauts, l'analyse du rendement, la qualification des produits et la métrologie. L'équipement est conçu pour des opérations à haut débit et peut prélever jusqu'à 8 plaquettes par minute. TENCOR P-10 Wafer Testing and Metrology System est conçu pour fournir des tests précis et reproductibles avec un haut degré de fiabilité. Il comprend une unité d'étalonnage automatisée pour s'assurer que les essais sont toujours exacts dans plusieurs études, et la machine est conçue pour être conforme à l'EDD et à d'autres normes, comme l'exigent l'industrie et le gouvernement. L'outil est équipé d'une gamme d'options de stockage de données et de communications. Il comprend un outil intégré de saisie et de déclaration des données qui permet un stockage et un accès rapides aux données. En outre, le modèle peut être connecté à d'autres réseaux, et peut être utilisé comme plate-forme pour la télécommande ou la commande automatisée. Dans l'ensemble, KLA P 10 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme intégrée et automatisée pour les tests et la métrologie des wafers. Il offre une gamme de caractéristiques et de capacités qui en font un outil idéal pour tester des plaquettes minces et mesurer les paramètres avec précision et précision.