Occasion KLA / TENCOR P10 #293821173 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour aider les fabricants de dispositifs en silicium à améliorer le rendement des dispositifs, à réduire les coûts de fabrication et à accélérer la mise sur le marché. Il offre des capacités d'inspection des plaquettes optiques et électriques et est conçu pour être utilisé dans un large éventail d'environnements de production et de développement technologique. Le système KLA P-10 offre des avancées significatives en termes de vitesse de traitement, de précision et de taille globale de l'unité. Il utilise des techniques de métrologie optique innovantes et de pointe. La machine contient un processeur embarqué propriétaire à grande vitesse qui peut gérer plusieurs tâches simultanément, permettant un traitement d'image et une analyse de données plus rapides. L'outil peut traiter jusqu'à 4500 wafers par heure (wph). En plus de ses performances de débit élevées, TENCOR P 10 offre une large gamme de capacités de mesure. Il s'agit notamment de la capacité de cartographie du niveau du transistor, de l'inspection des défauts au niveau de la matrice, de la détection des défauts de micro-filetage, des mesures de superposition 2D et 3D, de la double détermination et de la résistance au gradation, de l'analyse de l'épaisseur du film et de la mesure des dimensions critiques. En outre, le modèle TENCOR P-10 supporte des contrôles optiques, électriques et mécaniques parallèles, permettant un signal à faible bruit, des mesures plus rapides et une plus large gamme de défauts détectés. KLA/TENCOR P-10 dispose également d'une interface d'équipement très flexible. Son architecture ouverte permet une connexion facile à une variété de systèmes de test et de métrologie des plaquettes de pointe. Sa vaste bibliothèque logicielle offre aux clients un contrôle complet des paramètres, des rapports et du contrôle des processus. Le système offre également des logiciels pré-configurés et conviviaux spécialement conçus pour une gamme d'analyses IC standard, permettant aux utilisateurs de créer rapidement des recettes personnalisées avec facilité. En outre, KLA P10 comprend des capacités avancées de visualisation des données et d'extrapolation. Ses affichages graphiques et interfaces offrent une vue complète des données de défaut de wafer. Et ses algorithmes d'apprentissage automatique permettent aux utilisateurs de repérer rapidement les problèmes et d'extraire des informations précieuses des données de wafer. Dans l'ensemble, l'unité d'essai et de métrologie des plaquettes P 10 est une technologie de pointe qui peut apporter des avantages importants aux producteurs de dispositifs en silicium. Sa conception complète et flexible permet aux fabricants d'augmenter le rendement, de réduire les coûts et d'accélérer le délai de commercialisation.