Occasion KLA / TENCOR P10 #9293513 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour permettre la détection de défauts de tests microscopiques. Il fournit des mesures rapides, précises et fiables des caractéristiques physiques des plaquettes. Le système combine les dernières technologies de mesure sans contact et optique. Il a été conçu pour répondre aux exigences avancées en matière de processus et de mesure des plaquettes, comme la production de dispositifs semi-conducteurs, la microélectronique et le traitement des matériaux optiques. L'unité KLA P-10 offre quatre niveaux de précision et de précision. Il dispose d'une interface d'échantillonnage fiable et précise, qui aide à la cartographie précise des défauts de test. La machine offre également un contrôle de mouvement automatisé à grande vitesse qui est précis dans quelques nanomètres. Il combine diverses sources lumineuses, des systèmes d'alignement complexes, des lentilles, des miroirs et des caméras. Cela lui permet de mesurer avec précision sur une large gamme de caractéristiques d'essai, telles que les profils de surface, les largeurs de ligne et les défauts de surface au-dessus/au-dessous. Pour la mesure optique, l'outil TENCOR P 10 utilise une variété de techniques d'imagerie et de balayage, y compris la stéréomicroscopie, la polarimétrie et la profilométrie des miroirs. Ces techniques utilisent des équipements sophistiqués pour générer des images de détail de la surface de la plaquette. L'actif est également équipé d'un étage de rotation motorisé de haute précision, qui l'aide à mesurer avec précision les surfaces à des angles choisis. Le modèle KLA P 10 peut être utilisé pour un large éventail d'applications de test de plaquettes et de métrologie. Il s'agit notamment de l'analyse des défaillances, de la caractérisation des circuits intégrés, de l'alignement du recouvrement des IC et de la caractérisation des systèmes de capteurs optiques. En outre, l'équipement offre une imagerie numérique haute résolution avec un rapport signal/bruit de haute fidélité, ce qui est très utile pour contrôler la surface fine et les détails de la plaquette. Cela permet de détecter et d'analyser de minuscules défauts ainsi que de cartographier les modèles de test. Dans l'ensemble, le système d'essai et de métrologie des plaquettes P 10 est un outil puissant et fiable pour détecter avec précision les défauts d'essai et mesurer les caractéristiques physiques des plaquettes. Il combine les dernières technologies avec une grande précision et précision pour garantir des résultats de haute qualité.