Occasion KLA / TENCOR P10 #9293534 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 wafer testing and metrology equipment est un outil de métrologie avancé conçu pour la mesure et l'analyse précises des structures semi-conductrices. Il utilise des techniques d'optique et de calcul très avancées, de manipulation automatisée des échantillons et de spectroscopie en champ proche pour permettre l'examen et l'analyse de structures semi-conductrices avancées. KLA P-10 fournit des capacités d'imagerie puissantes au niveau macro et micro, y compris la reconstruction de surface 3D, l'analyse d'image 3D et l'imagerie spectrale haute résolution. Le système peut également être configuré pour détecter une gamme de paramètres physiques, y compris les propriétés électriques, thermiques, mécaniques et optiques. Cela permet d'effectuer une vaste gamme d'essais et de mesures de niveau de plaquettes, comme la contrainte, la résistance au contact et l'inspection des défauts. L'unité est également conçue pour être flexible pour s'adapter aux besoins spécifiques du client, fournissant une gamme de configurations d'outils et de composants interchangeables. Cela inclut une variété de capteurs de précision et de sondes qui permettent la mesure et l'analyse d'échantillons complexes. Il dispose également d'un étage intégré de hucking d'échantillons qui assure une saisie et un positionnement stables et reproductibles des échantillons. En outre, la machine TENCOR P 10 dispose de plusieurs configurations de manutention de plaquettes pour une production à haut débit. La conception modulaire de l'outil TENCOR P10 permet une précision et un débit accrus tout en minimisant les temps d'arrêt. Les capacités de mesure et de test flexibles offrent une gamme d'options pour adapter l'actif aux besoins particuliers des clients. En outre, les capacités avancées de gestion des données garantissent que le client a accès à des données sûres et fiables pour faciliter le contrôle de qualité et la fabrication efficaces. En résumé, P-10 est un outil de métrologie avancée pour les essais et la métrologie de plaquettes précises, spécialement conçu pour les structures semi-conductrices avancées. Il fournit des capacités d'imagerie et d'analyse puissantes, des configurations d'outils flexibles et des capacités de gestion de données avancées. Il s'agit donc d'une solution idéale pour tester et analyser des structures semi-conductrices sophistiquées.