Occasion KLA / TENCOR P10 #9399254 à vendre en France

KLA/TENCOR P10 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision conçu pour la caractérisation avancée des matériaux et la surveillance des processus et des défauts. Le système est conçu pour les applications de cartographie au microscope électronique (SEM) et au faisceau d'ions focalisés (FIB) des dispositifs semi-conducteurs, des circuits intégrés et d'autres matériaux. L'unité KLA P-10 combine des capacités d'imagerie sophistiquées, de sectionnement automatisé, de dépôt à haute résolution et de caractérisation complète pour permettre l'inspection et l'analyse complètes des plaquettes. La machine comprend une gamme de technologies intégrées telles que la microscopie à balayage à résolution nanométrique, la microscopie à force atomique, la spectroscopie Raman et l'imagerie chimique. Cet outil avancé fournit une mesure rapide et précise des propriétés des dispositifs tels que la topographie, la géométrie des défauts, la planarité, la profondeur et la composition chimique. L'actif offre une gamme de capacités automatisées qui sont idéales pour des mesures telles que la hauteur focale automatique et le contrôle de position de la focale, ainsi que l'optimisation des défauts. De plus, le modèle dispose d'une vaste suite de métrologie pour l'analyse automatisée des défauts au niveau des plaquettes. TENCOR P 10 dispose d'outils logiciels avancés pour l'analyse et la communication des résultats de mesure. Une interface graphique intuitive permet à l'utilisateur de visualiser, analyser et manipuler rapidement les données. Les outils automatisés simplifient l'extraction des données quantitatives de métrologie à partir des images. Un ensemble complet d'algorithmes d'analyse permet à l'équipement d'identifier et de classer divers motifs, caractéristiques et défauts de l'image. Le système est capable de capturer des images avec une résolution jusqu'à 1 micron et de mesurer une épaisseur aussi petite que 2nm. Il dispose d'une unité de positionnement de haute précision qui permet d'aligner et de focaliser rapidement l'échantillon. En outre, la machine est compatible avec une large gamme de substrats et de matériaux, y compris les matériaux semi-conducteurs, le quartz, le saphir et le verre. En résumé, la conception avancée et la technologie sophistiquée de l'outil KLA/TENCOR P 10 permet à l'utilisateur d'analyser rapidement et avec précision les circuits intégrés et autres matériaux. L'actif offre des capacités d'imagerie haute résolution, de sectionnement automatisé et d'inspection et d'analyse complètes des plaquettes. Des outils logiciels complets permettent à l'utilisateur de visualiser, d'analyser et de manipuler les données pour une mesure et une analyse plus efficaces. Ce modèle de haute précision est bien adapté à une large gamme d'applications de caractérisation des matériaux et de contrôle des processus et des défauts.