Occasion KLA / TENCOR P11 #293661312 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour améliorer l'expérience de test au niveau des plaquettes dans la fabrication de semi-conducteurs. Cet instrument combine la technologie de pointe de son prédécesseur P10 avec les capacités avancées de son système plus grand P15. Il permet à une seule unité d'accueillir une gamme de plaquettes de 6 « à 12 » tout en maintenant une analyse FTIR supérieure (Fourier Transform Infra-Red) et une capture de signal haute fidélité. Sa grande précision, son débit et sa facilité d'utilisation en font un outil puissant pour les applications de test et de métrologie au niveau des plaquettes. KLA P-11 met en œuvre sa technologie révolutionnaire de réseau photodiodiodiodique (PDA) pour capturer et digérer des données provenant de pas moins de quarante-quatre sites de photodiode en une seule mesure complète. Chaque photodiode de ce réseau est configurée individuellement pour acquérir des signaux avec une fidélité et une précision maximales. Ce résultat est une mesure complète avec une corrélation de données relatives et absolues à plusieurs endroits offrant une précision supérieure et moins d'itérations de test. Les capacités FTIR de TENCOR P 11 couplées à sa technologie PDA peuvent détecter même les variations les plus subtiles des structures de test et des paramètres de performance. Cela lui permet d'acquérir des données très précises pour l'analyse complexe du signal et du bruit dans des scénarios d'essais/métrologie manuels et automatisés. Les systèmes Process Control sont également disponibles avec KLA/TENCOR P 11 afin de mieux contrôler les séquences de test et le timing des plaquettes. Ceci assure une exécution flexible et de haute précision des opérations de test des plaquettes rendues possibles par le jeu de programmes « Instrument control language » (ICL). Pour augmenter les performances et la précision de KLA/TENCOR P-11 et préserver la précision dans le temps, des techniques optiques exclusives sont utilisées pour compenser la variabilité du matériel. La surveillance et les contrôles autonomes permettent également un ajustement dynamique des paramètres optiques pour maintenir des réponses très précises pour un certain nombre de tests différents. Le traitement amélioré et l'optique avancée de P11 fournissent à l'utilisateur une capture de données avancée, des mesures précises de la forme d'onde, l'analyse de signal en temps réel, et une gamme d'autres fonctionnalités. Dans l'ensemble, la machine offre une précision supérieure des données, des temps de mesure rapides et une efficacité opérationnelle pour les applications de test et de métrologie, ce qui en fait un choix idéal pour les opérations de fabrication de semi-conducteurs les plus exigeantes.