Occasion KLA / TENCOR P11 #293662985 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'analyse à haut rendement volumique et la surveillance des procédés fab. Le système utilise des techniques d'analyse d'imagerie avancées pour inspecter les plaquettes, dans le but de garantir un niveau de défaut minimal. Il est équipé de composants optiques et métrologiques spécifiques à l'outil optimisés pour l'imagerie, la caractérisation et la révision des défauts. Avec ses systèmes de métrologie optique 2X et 6X, KLA P-11 est un outil puissant et polyvalent pour diverses applications d'inspection des plaquettes. TENCOR P 11 dispose d'une structure robuste et rigide conçue pour supporter une grande densité de site. Ses systèmes d'imagerie hautement fiables sont capables d'assurer une inspection rapide et sans défaut des plaquettes à un temps de cycle d'environ 15 secondes. Avec ses systèmes d'imagerie améliorés, KLA/TENCOR P-11 utilise des algorithmes avancés pour détecter des défauts subtils qui peuvent ne pas être détectés par les systèmes traditionnels. De plus, TENCOR P-11 offre une capacité de superposition avancée, de masquage argenté et d'imagerie par clignotement pour une détection optimisée des défauts. P-11 intègre également plusieurs composants de métrologie avancés, y compris une unité AFM (Atomic Force Microscopy) avec un enregistrement latéral ultra-élevé pour mesurer la topologie des plaquettes avec un niveau de précision inégalé. La machine de métrologie haute performance KLA/TENCOR P 11 est encore améliorée par sa technologie brevetée Multi-Layer Contour Analysis pour la mesure de dimensions critiques (CD) très précises. Enfin, P11 comprend une station d'examen automatisé des défauts qui utilise des algorithmes avancés de reconnaissance des défauts 3D pour aider à l'examen et au post-traitement des données d'inspection des plaquettes. Dans l'ensemble, TENCOR P11 est un outil puissant et polyvalent d'essai de plaquettes et de métrologie qui est rempli de techniques d'analyse d'imagerie avancées, de composants de métrologie et de capacités d'examen automatisé des défauts. Il est très fiable, fournissant des résultats d'inspection précis et rapide à un temps de cycle de 15 secondes. Grâce à sa capacité à détecter les défauts subtils, à mesurer la topologie des plaquettes avec une précision inégalée et à automatiser l'examen des défauts, le P11 est un outil idéal pour obtenir des rendements de production élevés et une surveillance précise des processus dans l'industrie des semi-conducteurs.