Occasion KLA / TENCOR P11 #9009149 à vendre en France
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Vendu
ID: 9009149
Profilometer
Microhead sr Green probe tip (2um radius, 60 degrees)
3.1 Windows operating system
Tencor software version 2.0 (including 2.1, 2.2 and 2.3 upgrades).
KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance spécialement conçu pour les applications semi-conductrices. Il s'agit d'un système intégré conçu pour mesurer et analyser rapidement les plaquettes semi-conductrices en une seule unité. Il est équipé d'une large gamme de cartes de sonde de haute précision et d'interféromètres laser autofocus pour fournir le plus haut niveau de performance disponible. Cette machine offre un débit élevé, une grande précision et une fiabilité pour répondre aux exigences les plus exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs. L'outil KLA P-11 est alimenté par des processeurs dual-core et de grands systèmes de mémoire. Il est équipé d'un outil de positionnement 14 axes pour permettre une mesure rapide et précise de nombreux types différents de motifs 2D. Un modèle automatisé de reconnaissance de fonctions piloté par ordinateur fournit une reconnaissance de signal ultra-rapide, permettant à TENCOR P11 de recueillir plus de données et de faire des mesures plus précises. Un équipement de cartographie intégré permet l'acquisition et l'analyse de données topographiques de haut niveau. Le système dispose d'un interféromètre laser autofocus intégré qui utilise un laser excimère stabilisé en longueur d'onde de 910nm pour la mesure ultra-précise des plaquettes et dispositifs semi-conducteurs. P11 comporte un étage entièrement automatisé qui peut déplacer les sondes en tout point de la surface de la plaquette en millisecondes. La scène a un large éventail de mouvements, y compris un mouvement de balayage pour localiser rapidement des caractéristiques sur une grande zone. L'unité dispose d'un puissant moteur de détection de défauts capable d'analyser des images standard et des données 3D. Cette machine peut détecter et mesurer les défauts en fonction de leur forme, bords, niveaux de gris et d'autres paramètres. En outre, il peut analyser les défauts par taille, emplacement, fréquence et présence/absence. Cela fournit à l'utilisateur un aperçu inestimable des caractéristiques et du comportement des défauts. KLA P11 est conçu pour répondre à un large éventail d'applications de métrologie et est spécifiquement conçu pour réduire le temps de mesure. Il offre à la fois une grande précision et des mesures à grande vitesse, donnant aux utilisateurs les meilleures performances disponibles. Cet outil aide les fabricants à atteindre leurs objectifs de production en fournissant le meilleur aperçu possible de leurs processus. Enfin, KLA/TENCOR P-11 offre des fonctionnalités avancées telles que la surveillance et le contrôle à distance, ainsi que l'archivage complet des images pour une analyse future.
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