Occasion KLA / TENCOR P11 #9086448 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil automatisé d'inspection et de métrologie haut de gamme. Il s'agit d'un système intégré qui combine une caméra CCD couleur de 5 mégapixels, une gamme d'algorithmes puissants, un scanner automatisé et une suite complète de logiciels de mesure, fournissant une solution complète pour la recherche de plaquettes et la métrologie. L'unité est conçue pour effectuer des mesures rapides et précises du niveau de la plaquette et de la matrice. La caméra de la machine utilise un capteur d'imagerie CCD avec une résolution de 5 mégapixels avec une sortie vidéo couleur complète. La capacité de capture d'image de la caméra capture à la fois des images de wafer et de die, ainsi que la possibilité de choisir des temps d'exposition variables et des tailles d'ouverture pour une résolution optimale. Le scanner automatisé est conçu pour un débit maximum avec des étapes de mouvement de précision et assure le transfert de données vers l'outil d'imagerie à des vitesses allant jusqu'à 4MHz. En outre, un ensemble d'algorithmes avancés de traitement d'images sont utilisés qui utilisent des techniques d'imagerie et de non-imagerie pour mesurer et identifier avec précision la lithographie critique, le processus, la topographie et d'autres caractéristiques critiques. KLA P-11 Wafer Testing and Metrology Asset utilise une suite complète de logiciels de mesure personnalisés pour fournir une solution complète pour les caractéristiques critiques des plaquettes. Le logiciel permet une indépendance totale de l'infrastructure des clients, ainsi qu'une analyse d'image avancée, l'enregistrement des données, et une variété d'options de personnalisation. Le logiciel offre une large gamme de capacités de mesure qui comprennent la mesure sur différentes couches d'appareils, la taille des matrices, les emplacements des plaquettes, les tailles et les formes des caractéristiques, le parallélisme, la cartographie des faisceaux et l'analyse par focalisation. L'application est également capable d'analyser de grands champs de vues en un seul plan, ce qui aide à réduire les temps d'acquisition de données. TENCOR P 11 Wafer Testing and Metrology Model est conçu pour l'intégration dans les lignes et les processus de fabrication de semi-conducteurs, ne nécessitant aucun équipement propriétaire. Des instruments robustes, des performances supérieures, des processus automatisés et des algorithmes sophistiqués sont combinés pour fournir un équipement de surveillance de la production précis et reproductible. Le système est capable de fonctionner en continu dans une variété de températures et de niveaux d'humidité et offre une fiabilité supérieure dans différents processus de fabrication. En conclusion, P11 Wafer Testing and Metrology Unit est une machine complète et fiable conçue pour l'inspection automatisée et la métrologie haut de gamme. L'outil intègre une puissante caméra de 5 mégapixels, un scanner automatisé et une suite de logiciels de mesure pour fournir des capacités de mesure supérieures dans un large éventail de processus et d'applications. Les algorithmes sophistiqués de l'actif fournissent des résultats précis, reproductibles et fiables, tandis que ses composants robustes de qualité extérieure garantissent la longévité et une grande disponibilité même dans les environnements extrêmes.