Occasion KLA / TENCOR P11 #9248607 à vendre en France

KLA / TENCOR P11
ID: 9248607
Taille de la plaquette: 6"-8"
Surface profiler, 6"-8".
KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour fournir une rétroaction rapide et précise sur le contrôle des processus à chaque étape du processus de fabrication des semi-conducteurs. Il combine les caractéristiques de l'inspection des défauts, de la métrologie de recouvrement et de l'examen des défauts. Le système est compatible avec une large gamme de cartes de sonde et avec des motifs de masque qui sont compatibles avec les principaux contrôleurs de règles de masque de l'industrie. KLA P-11 est équipé de la technologie haute définition HD Super-Resolution, fournissant des capacités d'imagerie de plaquettes supérieures pour améliorer la précision de détection des défauts. L'unité utilise des algorithmes avancés pour analyser les images des plaquettes et analyser les défauts, ce qui permet une classification et un examen précis et fiable des défauts. Cela permet une reconnaissance rapide et précise des défauts, ce qui permet d'identifier rapidement et avec précision les plaquettes avec des non-uniformités très minuscules. TENCOR P 11 utilise une approche multi-capteurs pour la métrologie de superposition sans contact. Ceci permet des mesures d'alignement rapides, précises et répétables entre le masque et la plaquette de silicium sous-jacente. Par alignement de voxel et inspection de la topologie de surface de la plaquette de silicium sous-jacente, la précision de cet alignement peut être maintenue sur plusieurs plaquettes et lots. La machine de test et de métrologie KLA/TENCOR P-11 fonctionne sur une plate-forme de calcul standard. Il fournit une interface utilisateur intuitive sur l'écran de l'outil avec un ensemble bien structuré de menus et de boutons qui permettent aux opérateurs d'accéder rapidement à tous les modes, paramètres et paramètres de l'actif. En résumé, P11 est un modèle d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe. Il offre des capacités d'imagerie de plaquettes supérieures pour la précision de détection des défauts, des résultats précis et reproductibles pour la métrologie de recouvrement sans contact, et une interface utilisateur bien structurée qui permet aux opérateurs de gérer l'ensemble du processus rapidement et efficacement.
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