Occasion KLA / TENCOR P11 #9250103 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology est un système automatisé avancé d'inspection optique et de métrologie qui permet la surveillance des performances en temps réel et le contrôle des processus des wafers et des produits. En utilisant un microscope optique à haute résolution, KLA P-11 est capable d'analyser avec précision les caractéristiques des plaquettes, l'uniformité die-by-die et de mesurer l'épaisseur exacte du produit et les décalages de recouvrement. TENCOR P 11 utilise un champ de vue de 8 po ou 12 po avec ouverture numérique (NA) aussi faible que 0,18, fournissant une résolution de précision de 1 micron, et un taux d'acquisition d'image rapide allant jusqu'à 8 images par seconde. Un large éventail de composants optiques fournissent des paramètres complets et des types de mesure pour le support d'application dans les lignes de production, y compris l'analyse géométrique et gravure, l'examen des documents et la vérification du réseau. KLA/TENCOR P 11 offre également une capacité de classification rapide et fiable des défauts, ce qui permet aux utilisateurs d'analyser rapidement de grandes quantités de données et d'obtenir des résultats immédiats en un seul clic. Des algorithmes spéciaux détectent et classent automatiquement les défauts, fournissant un processus fiable et répétable pour caractériser, classer et valider les plaquettes et matériaux semiconducteurs. Le module principal de P11 se compose de Métrologie, Examen et recherche de motifs, et la plate-forme d'examen des défauts. Une interface utilisateur intuitive simplifie le fonctionnement et élimine les longs temps de configuration. La sortie des données est stockée dans un dépôt centralisé permettant la visibilité et l'accès aux paramètres de performance en temps réel tout en facilitant le partage des connaissances sur les défauts avec la bibliothèque mondiale des défauts. L'unité TENCOR P-11 offre également des capacités de traçabilité et d'analyse et de gestion du rendement net. Cette machine fonctionne avec des capteurs sophistiqués de type capacité qui sont capables de visualiser les résultats des inspections en images tridimensionnelles, ce qui la rend parfaite pour la surveillance des processus de wafer de qualité industrielle et l'analyse des défauts. Enfin, les outils Tool Manager permettent aux utilisateurs de suivre la performance des actifs et d'effectuer divers tests d'assurance qualité. KLA P 11 est un outil extrêmement polyvalent pour l'inspection, la surveillance et l'analyse des wafers et des produits dans les lignes de production actuelles. L'outil permet d'assurer la fiabilité et la précision du processus pour garantir des résultats et un rendement élevés.