Occasion KLA / TENCOR P11 #9269308 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe qui révolutionne les industries de l'essai des semi-conducteurs et de la métrologie. KLA P-11 utilise une technologie de balayage laser 3D haute puissance pour obtenir une image précise et haute résolution d'une plaquette individuelle. Cette image détaillée, combinée à un système de contrôle optique automatisé, permet à TENCOR P11 de mesurer rapidement et avec précision un large éventail de caractéristiques sur les plaquettes, y compris les dimensions des caractéristiques, les mesures de recouvrement, les dimensions critiques et l'analyse des rendements. KLA P11 se compose d'une plate-forme de base et de modules multiples pour les fonctionnalités ajoutées. La plate-forme de base comprend un étage vertical multi-axes, une tête de balayage rapide, un module d'imagerie confocale haute résolution, et plusieurs autres composants pour l'imagerie précise et la métrologie. L'étage multi-axes permet un positionnement précis de la plaquette et le module d'imagerie confocale permet une imagerie 3D détaillée de n'importe quelle plaquette. KLA/TENCOR P-11 utilise quatre modules supplémentaires pour fournir des capacités de mesure supplémentaires. Il s'agit notamment d'un module de mesure par recouvrement, d'un module de dimension critique par découpage (CD), d'un module de signature de processus et de mesure de profil, et d'un module de mesure du rendement au niveau de la tranche. Le module de superposition permet de comparer une puce à une autre, tandis que le module CD peut mesurer la distance entre deux caractéristiques différentes sur une filière. Le module de signature du processus mesure le profil électrique de la plaquette, tandis que le module de rendement du niveau de la plaquette teste le rendement de la plaquette. P11 peut également être utilisé pour l'optimisation automatisée des programmes de test et fournit un point unique de données pour la gestion des tests, la métrologie et l'analyse des données. Cette fonctionnalité logicielle permet aux utilisateurs de suivre les performances de leurs opérations de test, d'analyser et de comparer les résultats, et d'optimiser les processus pour obtenir les meilleurs résultats. Dans l'ensemble, le KLA P 11 est une unité d'essai et de métrologie avancée qui offre une vue améliorée et détaillée d'une plaquette. Sa technologie de balayage laser 3D permet de mesurer rapidement et avec précision un large éventail de caractéristiques sur les plaquettes, et sa machine d'inspection optique automatisée fournit des données pour optimiser les programmes de test. Toutes ces caractéristiques font de P-11 un outil essentiel pour les fabricants de semi-conducteurs.