Occasion KLA / TENCOR P11 #9281222 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 wafer testing and metrology equipment est un système automatisé d'inspection et d'analyse conçu pour fournir des résultats rapides, fiables et cohérents dans l'inspection et la caractérisation des wafers à l'échelle nano. Cette unité exploite les dernières technologies d'inspection optique automatisée et d'analyse d'images pour fournir des données de scannage et de caractérisation de la plus haute qualité avec une intervention minimale de l'opérateur. KLA P-11 utilise une puissante gamme de technologies matérielles et logicielles, y compris une caméra CCD haute résolution et un ensemble d'outils non-contactmétrologie de pointe. Cette machine est capable de scanner et d'analyser des plaquettes de 200mm à 600mm. TENCOR P 11 est également équipé d'une gamme de fonctions d'inspection structurées, telles que l'imagerie de lignes, d'espace et de réseaux, l'imagerie de caractéristiques de tangage fin et la navigation de base par défaut de silicium. De plus, il est capable de repérer des zones bien définies de la surface de la plaquette avec une précision spatiale et spectrale. En plus de ses capacités de balayage et d'analyse, TENCOR P11 comprend également un ensemble d'outils de métrologie avancée, qui comprend l'analyse spectroscopique, les mesures de surface et d'épaisseur, la détection des bords et la cartographie S/TIL, et la caractérisation des défauts. Il dispose également de capacités multi-canaux pour le balayage et l'analyse simultanés, permettant une mesure rapide de grandes surfaces. P-11 met également en œuvre des mesures de contrôle des procédés, permettant l'inspection et la vérification des résultats des procédés de fabrication. Cet outil est équipé d'une bibliothèque d'automatisation intégrée, qui simplifie la création et l'exécution de processus automatisés, permettant de créer des inspections automatisées pour réduire les taux d'erreur et maintenir des normes de qualité sur plusieurs lignes de production. Dans l'ensemble, le KLA P11 est un actif robuste, polyvalent et performant d'essai et de métrologie des plaquettes qui est conçu pour fournir des résultats rapides, fiables et cohérents dans l'inspection et la caractérisation des plaquettes à l'échelle nanométrique. En plus de sa puissante gamme de technologies matérielles et logicielles, le modèle utilise également des mesures de contrôle des processus qui permettent de déterminer les résultats des processus de fabrication. Cette combinaison de caractéristiques en fait un choix idéal pour l'inspection et l'analyse des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs.