Occasion KLA / TENCOR P11 #9355497 à vendre en France

ID: 9355497
Wafer surface profiler, parts system.
KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie développé par KLA. Il utilise une technologie de pointe pour des mesures précises et l'interprétation de données sur une variété de matériaux semi-conducteurs. Le système est conçu avec un étage de balayage linéaire pour rendre de grandes formes, de longues plages de mouvement, et une répétabilité élevée pour assurer la précision, la répétabilité et la précision. KLA P-11 est capable de mesurer les caractéristiques physiques des plaquettes, telles que l'épaisseur, la planéité, le rayon de courbure, le biseau et le rayon, ainsi que les caractéristiques électriques telles que la capacité, la résistance et les propriétés diélectriques. Il utilise une unité d'imagerie CMOS rapide à la foudre pour détecter les défauts sur la surface de la plaquette et une fonctionnalité automatique de métrologie assistée par ordinateur pour quantifier ces défauts. Les capacités d'imagerie haute résolution de la machine permettent de détecter des défauts minuscules sur les plaquettes et la tête de mesure 4 axes de TENCOR P 11 est capable de scanner avec précision une variété de matériaux en peu de temps. Il est également capable de scanner les surfaces rugueuses et lisses avec un contrôle de pas très précis. L'outil dispose également d'algorithmes d'analyse avancés pour identifier les tolérances et quantifier les variations entre les composants. Il peut mesurer une variété de caractéristiques dans plusieurs directions à différents niveaux de vitesse et de précision, ce qui permet des résultats précis et rapides. TENCOR P-11 offre une interface utilisateur intuitive et des capacités de réseautage flexibles ; permettant l'accès à distance et le contrôle à partir d'une variété de plates-formes. Il couvre également une large gamme de tailles de plaquettes de 8 « à 12 » et est conçu pour faciliter le débit élevé et maintient un faible coût total de possession. P-11 est un outil polyvalent pour le contrôle de la qualité dans la fabrication de semi-conducteurs, fournissant des résultats fiables, précis et précis. Avec ses caractéristiques riches et sa conception flexible, il est l'outil parfait pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs.
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