Occasion KLA / TENCOR P11 #9375263 à vendre en France

ID: 9375263
Style Vintage: 2000
Surface profiler 2000 vintage.
KLA/TENCOR P11 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer les propriétés électriques des plaquettes semi-conductrices. Le système est idéal pour le test des plaquettes sur les petites plaquettes, les plaquettes minces et les substrats en silicium polycristallin. L'unité est pratiquement sans entretien, permettant des périodes d'utilisation plus longues sans nécessiter d'entretien régulier. KLA P-11 a des capacités de métrologie de distribution et de diffusion 2D avancées pour garantir des résultats d'essai précis. Il utilise une machine à sonde multiple avec des sondes pneumatiques à basse pression avancées pour assurer des tests cohérents et fiables. L'outil peut détecter, mesurer et analyser toutes les composantes de la plaquette et des périmètres, y compris la caractérisation des limites, des bords et des défauts de la plaquette. TENCOR P 11 est intégré à l'actif de contrôle des processus de la série P12 (PCS) avec une interface utilisateur graphique couleur (GUI) évoluée et interactive. L'interface graphique interactive permet à l'utilisateur de personnaliser, d'ajuster, de surveiller et de contrôler les opérations de test des puces, y compris la mise en place et le contrôle des fonctions d'étalonnage, de test et de rapport. Le PCS fournit également des analyses de données pour optimiser le rendement et les performances des puces. P11 est capable de monter plusieurs types de plaquettes car il est équipé d'un gestionnaire de plaquettes multidirectionnel et d'un modèle avancé de vérification de plaquettes. Il permet également un balayage sous divers angles vers toutes les parties de la plaquette. L'équipement peut également être configuré pour accueillir des plaquettes manuelles, si nécessaire, par l'ajout de supports spéciaux ou de supports de plaques de base. Globalement, KLA/TENCOR P-11 est un système avancé de mesure des propriétés électriques des plaquettes semi-conductrices. Il a des capacités de métrologie avancées, une interface graphique personnalisable, et est adapté à différents types de plaquettes et orientations. L'unité permet également des tests de plaquettes efficaces et fiables et l'optimisation des performances des puces pour toutes les étapes de la production.
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