Occasion KLA / TENCOR P11 #9381675 à vendre en France

KLA/TENCOR P11 est un équipement robuste et productif d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet d'évaluer la qualité des plaquettes semi-conductrices. Avec une automatisation avancée et des capacités à haut débit, il convient à la fois aux phases de développement et de production. KLA P-11 dispose d'un étage à très haut débit, avec positionnement rapide et précis et autofocus, ce qui le rend idéal pour mesurer des profils de plaquettes complexes. Il est équipé d'un système avancé d'acquisition de données radiofréquence (RF) qui permet de mesurer plus rapidement les caractéristiques critiques telles que l'épaisseur et la taille des défauts. Il est également équipé d'imagerie infrarouge haute résolution (IR) pour détecter les défauts de surface, et il dispose d'un mécanisme de libération d'étage très rapide qui réduit le temps de cycle. TENCOR P 11 est conçu pour fournir une grande précision dans la métrologie et les essais des plaquettes semi-conductrices. Il dispose d'une technologie brevetée de métrologie et d'acquisition de données qui permet un diagnostic et une analyse approfondis. L'unité dispose de systèmes de balayage de haute précision pour détecter avec précision les films minces et épais, ainsi que de très petits défauts. Il dispose également d'algorithmes avancés de traitement d'image qui permettent de détecter, catégoriser, trier et imprimer rapidement des défauts critiques tels que les particules, les vides et la délamination. De plus, la machine P 11 fournit une gamme de capacités d'analyse de défauts et d'outils d'analyse de données qui permettent de prédire avec précision les tendances de rendement et l'analyse des défaillances. P-11 prend en charge la reconnaissance automatique des motifs, ce qui lui permet de détecter et de traiter rapidement des images avec des formes et des tailles variables. Avec ses systèmes optiques avancés et ses technologies logicielles exclusives, il est capable d'effectuer une variété de mesures de plaquettes différentes telles que la hauteur du profil, la traction des bords, la profondeur de gravure, la résistance à l'épaisseur, la topographie, les défauts cristallins, le dépôt de couches minces et la profondeur de diffusion dans une gamme de matériaux différents. L'outil KLA/TENCOR P 11 comprend également un suivi en temps réel sans contact des étapes de production, fournissant des alertes en temps réel pour alerter les opérateurs des problèmes potentiels de qualité des produits, permettant des mesures correctives proactives pour éviter des retards de production coûteux. En outre, l'actif comprend une interface de contrôle polyvalente, qui facilite le fonctionnement efficace des opérateurs non experts. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR P-11 est un modèle avancé, fiable et à haut débit d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir des mesures précises et précises des plaquettes semi-conductrices. Avec ses technologies optiques et logicielles avancées, ses capacités précises d'analyse des défauts et son interface de contrôle polyvalente, TENCOR P-11 est un choix idéal pour les environnements de production de plaquettes à haut volume.